全部产品分类
PhaseCam NIR 干涉仪

PhaseCam NIR

立即咨询获取报价获取报价收藏 收藏 下载规格书 下载规格书
美国
分类:干涉仪
厂家:4D Technology

更新时间:2023-02-23 15:57:50

型号: PhaseCam NIRVibration insensitive dynamic Twyman-Green interferometer for 1064 nm

PhaseCam NIR概述

4D Technology的PhaseCam NIR是一种波长为1064 nm的干涉仪,工作温度为16至27摄氏度。PhaseCam NIR的更多详细信息可在下面查看。

PhaseCam NIR参数

  • 类型 / Type : Twynman-Green Interferometer
  • 测量类型 / Measurement Type : Shape, Phase (wavefront), Reflectivity
  • 波长 / Wavelength : 1064 nm
  • 目标形状 / Object Shape : 2D, 3D
  • 聚焦范围 / Focus Range : ± 12.5 mm
  • 应用 / Applications : Optical Quality Control, Vacuum and Environmental Chamber Testing,, Optical Testing

PhaseCam NIR图片集

PhaseCam NIR图1
PhaseCam NIR图2
PhaseCam NIR图3

PhaseCam NIR规格书

PhaseCam NIR厂家介绍

4D技术是高分辨率表面和波前测量领域中做得较好的,适用于具有挑战性的位置和应用。 4D开创了“动态”测量技术,为改变制造商和科学家对测量的看法的全新仪器类别铺平了道路。从世界一流的天文观测站到光学制造车间,再到飞机飞行线路,4D测量仪和仪器都能准确地提供3D测量,尽管振动和噪音会阻碍其他仪器的运行。

相关内容

相关产品

图片名称分类制造商参数描述
  • 光电查
    FiBO 250 Interferometer干涉仪Promet Optics

    FIBO®250干涉仪是一种全自动解决方案,用于快速准确的光纤连接器端面测试。3D表面计量和先进的缺陷检测功能结合在一个紧凑的便携式系统中。

  • 光电查
    PhaseCam Twyman-Green Laser Interferometers干涉仪4D Technology Corporation

    与传统的Fizeau仪器相比,Twyman-Green配置干涉仪具有几个重要的优势:振动不敏感测量可在具有挑战性的环境中使用,如Cryo-Vac测试或长测量路径。设计可以非常紧凑,可在狭小空间或难以接近的位置使用。轴上设计可提供出色的精度,尤其是在测量球形元件时。测试和参考之间的功率比以无损方式调整。PhaseCam动态Twyman-Green激光干涉仪可提供高分辨率测量,即使振动和空气湍流Dynamic Interferometry®使PhaseCams能够在30微秒内捕获完整的波前测量结果,比传统的相移干涉仪快5000倍。PhaseCams结构紧凑,重量轻,使重新配置测试设置变得简单和容易,无需振动隔离。PhaseCam激光干涉仪非常适合大直径光学元件的计量、生产车间质量控制、通常受气流湍流阻碍的洁净室应用、远程操作必不可少的环境室以及移动部件(如可变形反射镜、旋转磁盘或振动膜)的模态分析。

  • 光电查
    Solid Etalons干涉仪TecOptics Corp

    固体标准具通常具有熔融石英衬底,其材料等级(例如UV-可见光或IR)取决于光谱区域。通常,对表面进行研磨、抛光和加工,使其平整度优于L/100,表面之间具有类似质量的平行度。电介质(或很少是金属)涂层提供所需精细度所需的反射率。

  • 光电查
    VFI-1200干涉仪Arden Photonics

    Arden Photonics的VFI-1200是一种干涉检测系统,设计用于检查劈开或抛光光纤的表面质量和平整度。它的最大视场为1200μm,具有X1.5、X2、X3和X6数码变焦。该干涉仪具有1/1.8英寸光学格式的64MP CMOS阵列图像传感器、12位ADC和525nm LED.它可以实时测量高达8°(2D)和4°(3D)的解理角,测量时间小于7秒。该干涉仪在2D模式下具有检查和条纹模式,并具有自动/手动端角测量功能,可生成3D端面高度图。它可以通过USB 3.0接口进行控制,该接口也可用作电源。VFI-1200采用台式模块,尺寸为240 X 240 X 90 mm,非常适合用于精密切割器制造、切割器维护、激光制造、医疗设备制造、光纤研发、特种光纤制造、角式切割器的开发和测试、设备线尾、LDF切割器制造/维护、光纤端盖制造和多光纤束制造应用。

  • 光电查
    MIS 300干涉仪OptoTech Optikmaschinen GmbH

    新型多功能缝合干涉仪MSI 300专为测试直径达300毫米的高孔径球体而设计。可选配最大300毫米的平面光学测量仪 刚性花岗岩底座和无源空气轴承 Z轴调整中的高精度半径滑块 MAHR MarOpto FI 1100 Z干涉仪模块 带X/Y轴十字滑台的反向设计干涉仪模块 高分辨率旋转轴(B轴),用于在光路中定位高孔径球体 直接驱动旋转轴(C轴),用于旋转光路中的高孔径球和可选平面 标准工件夹头HD-40(可选配其他夹头) OptoTech Inspect Mini EL-F数字式4 "菲佐干涉仪模块(其它模块可根据要求提供) 设计紧凑,集成PC工作区 操作 传统(手动)或使用μStitch MSI软件进行自动轴控制

相关文章