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2830 ZT波长色散X射线荧光（WDXRF）晶片分析仪提供了测量薄膜厚度和成分的先进能力。2830 ZT晶片分析仪专为半导体和数据存储行业而设计，可用于测定厚度达300 mm的各种晶片的层成分、厚度、掺杂剂水平和表面均匀性。请求报价

农场分析仪上的CropScan 1000H可测量小麦、大麦、高粱、燕麦、大米、大豆、鹰嘴豆、小扁豆、羽扇豆、蚕豆、油菜和其他种子和谷物中的蛋白质、油和水分。易于使用，坚固耐用，可靠且经济实惠。

Rigaku NEX OL采用先进的第三代能量色散X射线荧光（EDXRF）技术，代表了液流和固定位置网络或线圈应用的工艺元素分析的下一次进化。NEX OL的设计涵盖了从重工业到食品级的过程测量解决方案，可配置用于分类和非分类领域。从铝（Al）到铀（₂U）的分析为了提供卓越的分析性能和可靠性，EDXRF测量头组件源自已建立的Rigaku NEX QC高分辨率台式仪器。凭借这一成熟的技术，Rigaku NEX OL可对从铝（Al）到铀（U）的元素进行快速、无损的多元素分析——从百万分率（ppm）水平到高重量百分比（wt%）浓度。Rigaku NEX OL配备50 kV X射线管和SDD探测器，以及标准化、优化的管式过滤器套件，旨在解决广泛的过程控制应用。

波长范围: 1526.44 to 1568.77 nm

Viavi Solutions Inc.的OSA-610是一款光谱分析仪，波长范围为1526.44至1568.77 nm，波长分辨率为2.4 pm，动态范围为40至50 dB，扫描时间测量时间：分钟1.0秒，光功率范围为-60 dBm至10 dBm.有关OSA-610的更多详细信息，请参阅下文。

布鲁克光学公司的低温硅分析系统 (CryoSAS) 是用于硅的低温（<15K）杂质分析的一体化系统。CryoSAS 可在工业环境下运行。 CryoSAS 将布鲁克公司的高性能傅立叶变换红外光谱仪与无需液氦的集成式封闭循环低温冷却方法相结合。CryoSAS 的所有组件都非常精密，利用成熟的技术在充满挑战的硅生产环境中完成高难度分析。 CryoSAS 可实现高度自动化操作，包括准确报告分析结果。