HyperFlux™ PRO Plus

这款便携式遥感现场和工业仪器比我们的101型仪器更轻，功能更多，自1991年以来，101型仪器一直满足世界各地科学家和工程师的研究需求。

Rigaku NEX LS采用先进的第三代能量色散X射线荧光（EDXRF）技术，代表了用于卷材或线圈应用的扫描多元素工艺涂层分析仪的下一次进化。能量色散X射线荧光（EDXRF）为了提供卓越的分析性能和可靠性，EDXRF测量头组件源自已建立的Rigaku NEX系列高分辨率台式仪器。凭借其成熟的技术，Rigaku NEX LS可对涂层重量、涂层厚度和/或成分进行快速、无损的多元素分析，适用于从铝（Al）到铀（thickness U）的元素。涂层厚度和成分Rigaku NEX LS专为卷筒纸和卷材应用而设计，能够执行多元素组合、涂层重量或涂层厚度。测量头安装在刚性梁上，并配备有位于滚轮上方的线性横动机构，以使头-面距离恒定。需要时，可直接测量涂层的元素组成。相反，涂层重量（或涂层厚度）可以直接测量（其中元素的计数率与厚度成比例）或通过测量一些基材元素的衰减来间接测量（其中计数率与厚度负相关）。长期以来，台式EDXRF光谱仪一直是脱模涂层、转换器、真空成型塑料制造商和其他使用硅油作为阻挡层、脱模涂层或脱模剂的行业所熟悉的技术。实时扫描，用于更严格的过程控制公差，将用于硅涂层分析的EDXRF技术提升到一个新的水平。硅酮涂层应用于塑料和纸质基材，以改变产品（如标签）或包装的释放特性。如果施加的硅酮太少，或者如果存在硅酮涂层缺失的幅材区域，则在剥离应用中粘合剂剥离性能将受到不利影响，或者真空成形塑料的脱嵌特性将受到损害，从而导致产品报废或在制造和其它下游工艺中中断。如果应用了太多的硅酮，则制造的辊的成本增加，降低了盈利能力，并且在某些情况下影响了较终产品的接受和性能。

波长范围: 1520 to 1630 nm

APEX Technologies的AP2043B是一款光谱分析仪，波长范围为1520至1630 nm，波长分辨率为0.8 pm至0.4 nm@100 MHz至50 GHz，波长精度为±2 pm至±3 pm，动态范围为83 dB，18 nm扫描时间为1秒。有关AP2043B的更多详细信息，请参见下文。

波长范围: 1567 to 1607 nm

APEX Technologies的AP2052A是一款光谱分析仪，波长范围为1567至1607 nm，波长分辨率为80 pm至0.4 nm@10至50 GHz，波长精度为±3 pm，动态范围为83 dB，扫描时间在0.4 nm/s（min）和1.2 nm/s（Max）之间。有关AP2052A的更多详细信息，请参见下文。

波长范围: 1200 to 2400 nm谱带: exNIR

横河电机公司生产的AQ6375B是一种光谱分析仪，其波长范围为1200~2400nm，波长分辨率为0.05~2nm，波长精度为±0.5nm，动态范围为45~55dB，扫描时间为0.2S、1s、5S、20s、75s.有关AQ6375B的更多详细信息，请参阅下文。