XRV-100数码相机幻影

紫外激光束轮廓仪在工业应用中有着良好的记录，可用于半导体和显示器行业中加工激光材料的准分子激光器，以及Nd：YAG激光器的三次、四次和五次谐波。该产品的基本系统由基于紫外探测器和高级BeamLux II软件的相机组成。根据有效面积，可以测量从10um到100mm的光束直径。

使用World Star Tech激光束轮廓仪，全面了解系统的光学性能。光束轮廓仪可让您在微观尺度上看到激光束的确切形状和特征。它专为可重复和可靠的数据采集而设计，是制造、维修和装配应用的理想选择。无窗130万像素1/2传感器捕捉光束轮廓，没有标准图像传感器存在的边缘效应。查看小至5.2µm的复杂光束特征。通过实时椭圆计算可视化光束，并通过曲线拟合查看横截面。在易于使用的Windows软件界面上显示感兴趣的关键波束宽度参数，如半高全宽（FWHM）和1/E2。使用具有可自定义测试持续时间和采样率的光束漂移可视化工具，跟踪光束质心随时间的稳定性。将结果导出为各种图像格式或PDF报告。

Dataray WinCAMD-LCM CMOS激光束分析仪提供USB 3.0传输速率和高分辨率1英寸。探测器适用于从OEM集成到R&D的各种应用。这款光束轮廓仪可在190至1605 nm范围内使用，在2048×2048有效面积内提供5.5µm像素，更新速率高达60 Hz，并具有光学/TTL（晶体管-晶体管逻辑）触发器。CMOS探测器消除了彗星拖尾，全局快门和触发使能脉冲捕获。USB 3.0接口配有专有的可定制软件。该激光束剖面仪的应用包括CW和脉冲激光剖面仪、激光系统的现场维修、光学组件、仪器校准、光束漂移和记录、质量控制以及使用可用的200 mm平移台进行m²测量。

DATARAY公司的基于CMOS的激光束轮廓仪系统该光束轮廓仪可用于从紫外到红外光谱范围的各种激光器。

XRV系列X射线和质子束检测系统将精密计量与高能辐射检测相结合，形成了基于胶片测量的完全电子替代方案。现在可以以无与伦比的速度和精度测量铅笔般细的电离辐射束的XYZ位置和矢量。可以在几秒而不是几小时内获得波束矢量、轮廓和发散度。自动化脚本可用于记录射束形状、强度、位置和方向随时间的变化，以便在以后的分析或3D体积重建中使用。XRV系统验证质子和X射线治疗子系统（机器人、准直器、放射源和kV成像仪）是否协同工作，以准确地将辐射输送到不规则形状的病变体积。光束位置测量精确到0.3mm，测量重复性通常为0.04mm。矢量和波束观察软件可实现捕获数据的实时任意角度观察。可以以高达每秒30帧的速率实时捕获多达4，000帧的视频。