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基准XLT 位移测量计

基准XLT

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分类:位移测量计

更新时间:2024-04-19 14:40:59

型号:

基准XLT概述

View Benchmark™XLT在大行程、非接触式、高精度计量系统中提供View性能和可靠性。基准XLT旨在使用其移动桥设计来处理大面积零件或较小零件的嵌套组。先进的图像处理使基准XLT能够高速、准确和稳健地运行。

基准XLT参数

  • 测量范围 / Measurement Range: : 900 - 1500 mm

基准XLT规格书

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图片名称分类制造商参数描述
  • 光电查
    HPB- 75 Button Probe位移测量计Capacitec Inc

    Capacitec的HPB薄型“侧视”钮扣式探头设计用于测量紧密或隐蔽接入位置的位移和零件尺寸变化,以观察接地目标。Button系列探头特别适合放置在非常小的位置,低至0.025英寸(0.65毫米),用于检查薄间隙。探针通常成对使用,以补偿零件未对准和量规定位。Capacitec可以用非接触式“电子测量仪”取代现有的机械接触测量方法,从而提高准确度、可重复性和精度。HPB按钮探头可在宽工作温度范围内进行从低温到1000°C的精确位移测量。Capacitec专门提供定制配置,包括将探头安装到客户的组件和固定装置中的服务。有关更多信息,请咨询Capacitec技术支持团队。

  • 光电查
    Laser Doppler Displacement Meter MCV-500位移测量计Optodyne Inc

    Optodyne的MCV-500紧凑型线性机器校准系统可校准CNC机床、CMM(坐标测量机)和其他精密测量机和工作台。这种新型紧凑型校准系统基于专利激光多普勒位移计(LDDMT)技术,易于设置和操作。包括Windows软件、自动补偿(补偿空气温度、气压和材料热膨胀)和附件在内的基本系统以极其实惠的价格打包。该系统非常紧凑,可装入一个小手提箱中。WindowsTM软件可在任何IBM兼容计算机上运行,用户界面友好,旨在根据各种行业标准(如NMTBA、VDI、ISO和ASME B5.54)收集和分析数据。激光系统经过校准,并可追溯到NIST。

  • 光电查
    Laser Doppler Displacement Meter VS-5000位移测量计Optodyne Inc

    Optodyne的VS-5000系列振动传感器是一种非接触式、高灵敏度的位移、速度和加速度测量方法。作为机械振动的存储示波器,VS-5000满足微电子、航空航天、汽车和研发应用的精密工程要求。单轴(VS-5010)或双轴(VS-5020)系统的测量精度为±0.5 ppm,分辨率为±0.05微英寸,速度高达200英寸/秒,频率响应从Do到400 kHz。该双轴系统(VS-5020)具有极高的信噪比,允许用户同时测量目标和背景现象,同时保持每次测量的完整性。

  • 光电查
    os5100 Optical Displacement Gage位移测量计Micron Optics Inc

    基于光纤布拉格光栅(FBG)技术,OS5100专门设计用于测量试样表面上两个测量点之间的位移。测量仪的设计非常灵活,可以方便地连接到各种基底上,直接在金属、混凝土和其他表面上进行测量。构成OS5100测量仪的两个FBG传感器位于坚固的硬质涂层阳极氧化铝外壳内,该外壳可保护传感器免受恶劣环境的影响,并允许在恶劣环境中安装。该测量仪可以单独使用,也可以作为FBG传感器阵列(可包括应变和温度测量仪、加速度计和其他位移测量仪)的一部分串联使用。与类似的电子仪表网络相比,这种阵列的布线成本低得多,也不那么麻烦。电缆可以直接在外壳内连接,无需单独的接线盒。OS5100提供了所有基于FBG的传感器所固有的许多优势,包括EMI抗扰度——这是振弦式测量仪无法提供的。对于每个测量仪,Micron Optics都提供了一份传感器信息表,列出了将波长信息转换为工程单位所需的测量仪系数和校准系数。Micron Optics的EnLight传感软件为大型传感器网络提供了计算、记录、显示和传输数据的工具。

  • 光电查
    PD-1001Interferometric Sensing位移测量计Evanescent Optics

    PD-1000是一种条纹跟踪干涉仪,由一个控制单元组成,该控制单元包含一个稳定的激光二极管源,使用光纤电缆来传输和接收光信号,并且与光振幅无关。该系统与各种干涉仪兼容,这些干涉仪可以被配置为体光学器件或光纤器件。该系统可以用各种被测量来操作,其中光程长度的变化是由距离或折射率的变化引起的。

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