原子和分子吸收光谱由于其相对可负担的成本和操作的便利性,在光谱分析中得到了广泛的应用。尽管这两种方法都涉及到光的吸收,但它们的基本原理和应用却有所不同。
用于EPMA和FE-SEM的软X射线发射光谱仪概述
用于EPMA和FE-SEM的软X射线发射光谱仪参数
- 测量类型 / Measurement Type: : Elemental analysis, Contaminant detection and analysis
- 最低电平检测 / Lowest Level Detection (LLD) Range: : 1 - 10 ppm
- 决议 / Resolution: : 0.3eV
用于EPMA和FE-SEM的软X射线发射光谱仪图片集
用于EPMA和FE-SEM的软X射线发射光谱仪规格书
用于EPMA和FE-SEM的软X射线发射光谱仪厂家介绍
自1949年以来,JEOL legacy一直是开发用于推进科学研究和技术的仪器的杰出创新之一。JEOL在电子显微镜领域拥有70年的专业知识,在质谱和核磁共振光谱领域拥有60多年的经验,在电子束光刻技术领域拥有50多年的领先地位。 JEOL USA,Inc.是日本JEOL有限公司的全资子公司,1962年在美国注册成立。JEOL USA的主要业务是销售新仪器和外围设备,并支持遍布美国、加拿大、墨西哥和南美洲的大量仪器安装基地。
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