MATRIX-F FT-NIR光谱仪

较大限度地减少机器停机时间和延长换油周期的重要工具是分析用于运行机器的润滑剂。就像医学诊断中的血液测试一样，定期测试使用中的润滑液可以提供有用的数据，为行动和决策提供信息。作为预测性维护的关键组成部分，有效的润滑剂分析程序可帮助机器所有者及早发现潜在故障，以防止代价高昂的机械损坏。同时，常规的润滑油状况监测可以减少润滑油的更换频率，从而有助于节省资金。如果您是一家润滑油制造商，将润滑油与添加剂混合或配制以优化润滑油性能，Affirma分析系统可帮助您缩短开发时间，并从现场或实验室测试环境中获得准确的结果。

紧凑型FTIR光谱仪Interspec 650-X以紧凑的尺寸和实惠的价格提供高性能。Interspec 650-X FTIR光谱仪结合了仪器外部灵活的样品处理和领先的Interspec for Windows软件，是工业、政府或学术实验室的理想解决方案。它使用摆锤式屋顶镜干涉仪，实现了与其他Interspec FTIR型号相同的经过现场验证的FTIR技术。Interspec 650-X FTIR光谱仪设计轻巧，占地面积小，使您能够将光谱仪带到较需要答案的地方：从繁忙的实验室到生产车间或仓库。波数范围为7000至400 cm-1（KBr光学器件）或5000至600 cm-1（ZnSe光学器件），标准光谱分辨率为1 cm-1，光谱仪在光谱仪外部形成内置结构型样品室，能够使用不同的附件进行透射、反射和ATR测量。内置式结构样品仓内置结构型样品室允许使用附件进行透射、反射和ATR测量。

Rigaku NEX LS采用先进的第三代能量色散X射线荧光（EDXRF）技术，代表了用于卷材或线圈应用的扫描多元素工艺涂层分析仪的下一次进化。能量色散X射线荧光（EDXRF）为了提供卓越的分析性能和可靠性，EDXRF测量头组件源自已建立的Rigaku NEX系列高分辨率台式仪器。凭借其成熟的技术，Rigaku NEX LS可对涂层重量、涂层厚度和/或成分进行快速、无损的多元素分析，适用于从铝（Al）到铀（thickness U）的元素。涂层厚度和成分Rigaku NEX LS专为卷筒纸和卷材应用而设计，能够执行多元素组合、涂层重量或涂层厚度。测量头安装在刚性梁上，并配备有位于滚轮上方的线性横动机构，以使头-面距离恒定。需要时，可直接测量涂层的元素组成。相反，涂层重量（或涂层厚度）可以直接测量（其中元素的计数率与厚度成比例）或通过测量一些基材元素的衰减来间接测量（其中计数率与厚度负相关）。长期以来，台式EDXRF光谱仪一直是脱模涂层、转换器、真空成型塑料制造商和其他使用硅油作为阻挡层、脱模涂层或脱模剂的行业所熟悉的技术。实时扫描，用于更严格的过程控制公差，将用于硅涂层分析的EDXRF技术提升到一个新的水平。硅酮涂层应用于塑料和纸质基材，以改变产品（如标签）或包装的释放特性。如果施加的硅酮太少，或者如果存在硅酮涂层缺失的幅材区域，则在剥离应用中粘合剂剥离性能将受到不利影响，或者真空成形塑料的脱嵌特性将受到损害，从而导致产品报废或在制造和其它下游工艺中中断。如果应用了太多的硅酮，则制造的辊的成本增加，降低了盈利能力，并且在某些情况下影响了较终产品的接受和性能。

通过捕获单个图像，无需比较多次曝光或更改相机设置，即可提高Western Blot结果的一致性和准确性。获得专利的FieldBrite™XT2光学器件为Odyssey FC提供动力，使您每次都能获得较佳图像。在同一成像仪上检测化学发光或NIR Western印迹并记录DNA凝胶，而无需使用多种仪器。记录用溴化乙锭、SYBR®SAFE、SYBR Green I和许多其他广泛使用的DNA染色剂染色的琼脂糖和PAGE凝胶。

波长范围: 1525 to 1607 nm谱带: C+ L band, C Band, L Band, O Band

Aragon Photonics的BOSA 100是一款布里渊光谱分析仪，配有外部TLS，工作波长为1265至1607 nm.它的光学分辨率为0.08 pm/10 MHz，无杂散动态范围超过80 dB.分析仪的测量速度为20 nm/s.它是研究和开发下一代光子器件和光学系统的科学家和工程师的理想选择。由于其自动化功能，分析仪可以与实验室基础设施的其余部分顺利集成。它提供附加选项，如TLS输出、分量分析仪、偏振测量扩展和相位测量。