新型光学微透镜:具有高数值孔径和高聚焦效率的混合消色差微透镜
伊利诺伊大学厄巴纳-香槟分校的研究人员利用三维打印技术和多孔硅,开发出了小型可见光波长消色差透镜,这对于实现光学器件的小型化和轻量化至关重要。这些高性能混合微光学器件可实现高聚焦效率,同时最大限度地减少体积和厚度。此外,这些微透镜还可以构成阵列,为消色差光场成像仪和显示器形成更大面积的图像。
更新时间:2024-04-19 14:40:59
概述
标准的M266单色仪。
参数
规格书
厂家介绍
相关产品
AvaSpec-ULS3648TEC光谱仪是SensLine中较新的光谱仪之一。该仪器采用了我们重新设计的三级珀尔帖冷却装置,集成到我们独有的超低杂散光光具座中,可将CCD芯片的温度降低-35°C,从而显著提高暗基线和PRNU水平。探测器冷却还将暗噪声降低了2-3倍。与Avantes之前的TEC光谱仪相比,ULS3648TEC的尺寸缩小了35%以上。上述特性使AvaSpec-ULS3648TEC成为低照度应用的绝佳选择,例如荧光和拉曼测量,其中可能需要超过5秒的积分时间。AvaSpec-ULS3648TEC可作为1通道或2通道仪器交付,并具有标准AvaSpec-ULS3648的所有标准选项、光栅和规格。AvaSpec-ULS3648TEC内置在新设计的外壳中,集成了温度调节器、USB2高速通信、双冷却风扇和集成电源。
波长范围: 400 - 700 nm
PCE-CSM 20是用于高质量颜色测量的手持式分光光度计。PCE-CSM 20具有单个8 mm孔径,包括用于工业颜色测量应用的SCI和SCE镜面模式,提供长电池寿命、长寿命4色灯和易于使用的便携式设计。小样本的相机/照明定位。分光光度计的高质量处理速度非常快。使用光谱仪时,设备的高测量精度非常重要。在生产等级和质量保证中,通常使用分光光度计。在这里,重要的是始终生产恒定的质量,并且各个零件不仅看起来相似,而且看起来相同。为此,高测量质量是非常重要的。根据型号的不同,测量数据可以通过内置的USB传输到计算机。交付内容中还包括适当的软件。
Ocean Insight的NirQuest+是一款近红外光谱仪,工作波长为900至2500 nm.其光学分辨率为3.4~10.8nm,动态范围为7500~15000∶1。该光谱仪具有16位A/D分辨率和10000:1的信噪比。它具有像素尺寸为50 X 500µm的InGaAs光电二极管阵列探测器。光谱仪需要5 V的直流电源,消耗250 mA的电流。NIRQUEST+模块尺寸为182 X 110 X 47 mm,适用于谷物水分含量测定、药物成分质量保证/质量控制检测、组织血氧测量、土壤样品成分分析、近红外激光表征、石油和天然气中的碳氢化合物分析、涂层硅晶片的光致发光以及塑料化学成分测定等应用。
波长范围: 1000 to 2000 nm
Avantes的AvaSpec-NIR512-2.2TEC是一款光谱仪,波长范围为1000至2000 nm,光谱分辨率为4至60 nm.有关AvaSpec-NIR512-2.2TEC的更多详细信息,请参阅下文。
波长范围: 5 to 12 nm
IRSweep的IRSpectrometer是一种QCL频率梳光谱仪,它提供了一种具有无与伦比的速度、带宽和亮度组合的光学传感器。它是第一个提供基于半导体的电泵浦中红外频率梳光谱系统的系统。该光谱仪具有低于1微秒的时间分辨率、高达150cm-1的大光谱带宽和低于10MHz的高光谱分辨率。该设备需要110至230 VAC的电源电压,功耗高达700瓦。它的系统尺寸为103 X 63 X 34 cm,样品室尺寸为28.7 X 20.8 X 17.5 cm,适用于各种应用,如痕量气体传感、生物分子光谱和化学分析。特别是在具有复杂背景基质的应用中或在必须同时定量多个相似分子的情况下。该系统现已接受预订。
相关文章
新型光学微透镜:具有高数值孔径和高聚焦效率的混合消色差微透镜
伊利诺伊大学厄巴纳-香槟分校的研究人员利用三维打印技术和多孔硅,开发出了小型可见光波长消色差透镜,这对于实现光学器件的小型化和轻量化至关重要。这些高性能混合微光学器件可实现高聚焦效率,同时最大限度地减少体积和厚度。此外,这些微透镜还可以构成阵列,为消色差光场成像仪和显示器形成更大面积的图像。
研究人员已经为具有高光谱分辨率的天基成像光谱仪开发了一种新的更小、更轻的设计。这些高分散成像光谱仪可以在航天器或卫星上使用,以研究地球的大气或其他行星的大气。
中国一个由光电和材料工程师组成的多机构团队开发出一种在可见光、微波和红外光谱中几乎不可见的超材料。在他们发表在《美国国家科学院院刊》上的论文中,该小组描述了他们对这种材料的灵感,它是如何制造的,以及它在测试中的性能。
在光子合成维度中,光子的内部自由度,如频率、空间模式和轨道角动量的耦合,产生了除真实空间之外的额外维度。这种方法是一个强大的工具,可以利用在工程和控制方面具有优势的低维平台来研究高维系统所特有的新的物理现象。