球面光学干涉仪 OWI桌面60毫米

Accufiz Fizeau干涉仪提供无与伦比的性能、质量和价值组合，用于精确、可重复测量表面形状和透射波前质量。Accufiz激光干涉仪非常容易在有限的实验室空间中使用。紧凑、轻便的设计具有极高的刚性，可在任何方向或环境中实现较大的稳定性。波长范围为355 nm至1.064µm，孔径范围为33至800 mm，采用水平和垂直安装配置，为各种应用和预算提供了合适的选择。可选的600万像素高分辨率相机可捕捉任何商用干涉仪的较高斜率。测量非球面、自由曲面光学元件和高度像差元件。可选的表面隔离源（SIS）增加了测量平面平行光学器件的能力，无需涂层或背面处理以消除不必要的反射。在薄至300µm的光学器件上量化形状光学厚度、透射波前误差和均匀性。

AZP 200 HP是一款适用于许多光学生产领域的较佳多功能固井装置。由于各种安装和选项，AZP 200 HP可以完美地适应所有特殊的固井和定心任务。

Armstrong Optical较新推出了一系列经过客户验证的相位测量斐索干涉仪，包括垂直（向下看）和水平配置的300mm（12）孔径IFV-300和IFH-300。这两种配置都配有经过认证的Lambda/20传输平面和符合人体工程学设计的样品处理系统。使用我们的合作伙伴TriOptics Berlin提供的备受推崇、功能强大且直观的µShape专业控制、采集和分析软件，可以简单、精确地测量较大的平面和透射窗口。

新型HeliInspect™H8是Heliotis系列无与伦比的光学在线传感器的较新成员。这款工业级白光干涉仪的核心采用了Heliotis下一代3D像素传感器HeliSens™S4。

波长: 350 to 535 nm探测器类型: Photodiode

Thorlabs公司的SA200-3B是一款干涉仪，自由光谱范围（FSR）为1.5 GHz，波长为350至535 nm.有关SA200-3B的更多详细信息，请参见下文。