全部产品分类
平场和成像光栅 543 00 170 衍射光学元件

平场和成像光栅 543 00 170

立即咨询获取报价获取报价收藏 收藏 下载规格书 下载规格书
美国

更新时间:2024-04-19 14:40:59

型号:

平场和成像光栅 543 00 170概述

IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

平场和成像光栅 543 00 170参数

  • 分散 / Dispersion: : 9nm/mm
  • 波长范围 / Wavelength Range: : 175 - 400 nm
  • 频谱长度 / Spectrum Length: : 25.1mm
  • F/Number / F/Number: : 4
  • 沟槽密度 / Groove Density: : 580l/mm

平场和成像光栅 543 00 170规格书

平场和成像光栅 543 00 170厂家介绍

HORIBA于1945年在日本成立,当时名为HORIBA Radio Laboratory,现已发展成为全球运营和分销的研发中心。他们通过创新的测量和分析技术,不断满足并超越全球客户的期望。目前,堀场集团提供广泛的设备和系统,应用范围从汽车研发、过程和环境监测、体外医疗诊断、半导体制造和计量,到广泛的科学和质量控制测量。一贯卓越的品质和可靠性使HORIBA品牌赢得了广泛的信任。

相关内容

相关产品

图片名称分类制造商参数描述
  • 光电查
    ArF 53-141E DIFFRACTION GRATING衍射光学元件Richardson Gratings

    ARF 53-141E衍射光栅。

  • 光电查
    Custom Transmission Gratings衍射光学元件Holographix LLC

    Holographix成功地推进了透射光栅的设计和制造工艺,使我们能够生产出始终达到或超过体光栅性能的表面浮雕组件,但成本只是体光栅的一小部分。

  • 光电查
    Flat Field and Imaging Grating 523 00 430衍射光学元件HORIBA Scientific

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 光电查
    Flat Field and Imaging Grating 523 00 840衍射光学元件HORIBA Scientific

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 光电查
    Ruled Plane Grating 510 42衍射光学元件HORIBA Scientific

    HORIBA Jobin Yvon生产了各种直纹母光栅,我们用这些母光栅制造高精度复制品。我们的高精度复制光栅的尺寸范围通常从25x25 mm到120x140 mm。

相关文章