高性能光学涂层和滤光片以及薄膜沉积技术的全球领导者Alluxa公司宣布，为德克萨斯A&M大学米切尔基础物理和天文学研究所以及物理和天文学系（https://physics.tamu.edu/）的系外行星传输光谱成像仪（ETSI）使用的15波段光学滤光片进行了突破性的开发。


图表显示Alluxa为ETSI仪器设计的定制多波段过滤器的传输情况。图片来源：Alluxa, Inc.
ETSI是第一台精密仪器，可以从一个适度的地面观测站利用中小型望远镜检查数百个系外行星的传输光谱。

ETSI利用了一种新的特性化技术，称为共轨多波段成像（CMI）。该仪器的光学设计包括一个棱镜和Alluxa公司的新型多波段光学滤光片，在系外行星越过明亮恒星的过程中，在两个探测器上同时成像15个波段（从430纳米到975纳米）。这种开创性的设计使ETSI能够在过境光谱测量中达到前所未有的测光精度。

该论文的共同作者、Alluxa公司的首席执行官Mike Scobey指出："Alluxa工程团队为德克萨斯A&M公司开发了定制的15波段技术，用于ETSI的这个突破性项目，以探测遥远恒星的系外行星的大气层。该技术也应扩展到更大和更敏感的望远镜中，并有可能促进对太阳系外第一批宜居行星的探测。我们非常高兴能够为这项重要的工作做出贡献，并期待着看到未来的成果"。

"德克萨斯A&M大学和Alluxa公司的合作白皮书称："ETSI和CMI技术可能为从地面观测站描述几乎所有的凌日系外行星和潜在的宜居性提供一个通道。要了解更多关于系外行星透射光谱成像仪的信息，请在这里下载白皮书：https://arxiv.org/pdf/2012.00795.pdf。