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FQCW266-10-C 激光器模块和系统

FQCW266-10-C

分类: 激光器模块和系统

厂家: CryLaS GmbH

产地: 德国

型号: FQCW266-10-C

更新时间: 2026-03-08T03:52:34.000Z

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低噪声 检测 光谱学 二极管泵浦 连续波 固体激光器 分析 专利设计

FQCW266-10-C是一款二极管泵浦连续波固体激光器,具有266nm波长、单频、低噪声和专利设计,适用于光谱学、检测、分析和母版制作等应用。

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概述

FQCW266-10-C是一款二极管泵浦连续波固体激光器,具有266nm波长、单频、低噪声和专利设计,适用于光谱学、检测、分析和母版制作等应用。

参数

  • 标称输出功率 / Nominal Output Power : 10mW
  • 输出功率可调范围 / Output Power Adjustability : 2-12mW
  • 波长 / Wavelength : 266nm
  • 线宽 / Linewidth : <300kHz
  • 相干长度 / Coherence Length : >1000m
  • 光束质量因子M² / Beam Quality Factor M² : <1.3
  • 偏振 / Polarization : vertical, >200:1
  • 光斑直径 / Beam Diameter : 0.65mm±20%
  • 光束发散角(全角) / Beam Divergence (Full Angle) : <0.8mrad
  • 光束指向稳定性 / Beam Pointing Stability : <3μrad/K
  • 静态对准容差 / Static Alignment Tolerance : 位置<±0.25mm,角度<±2.5mrad
  • 功率稳定性 / Power Stability (8h, 1s Average) : <1% rms
  • 噪声(100kHz-10MHz) / Noise (100kHz-10MHz) : <0.5% rms
  • 线路电压 / Line Voltage : 90-250VAC
  • 最大功耗 / Power Consumption Mean (Max) : 70W (120W)
  • 通信接口 / Communication Interface : USB/RS232/TCP-IP optional
  • 安全设备 / Safety Equipment : key switch
  • 安全设备 / Safety Equipment : interlock
  • 控制单元尺寸 / Dimensions (Control Unit) : 164x165x42mm³
  • 控制单元重量 / Weight (Control Unit) : 3kg
  • 尺寸(激光头) / Dimensions (Laser Head) : 279x190x91mm³
  • 重量(激光头) / Weight (Laser Head) : 6kg
  • 工作温度 / Operating Temperature : 20°C至35°C非冷凝
  • 冷启动预热时间 / Warm-Up Time (Cold Start) : <15分钟

应用

1. 光谱学 2. 检测 3. 分析 4. 母版制作

特征

1. 266nm波长 2. 连续波 3. 单频 4. 低噪声 5. TEM00模式 6. 最大功率10mW 7. 导热冷却 8. 专利设计

图片集

FQCW266-10-C图1
FQCW266-10-C图2
FQCW266-10-C图3
FQCW266-10-C图4
FQCW266-10-C图5
FQCW266-10-C图6
FQCW266-10-C图7
FQCW266-10-C图8

规格书

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  • 通过气体注入磁控溅射技术合成的氮化钨(WNx)薄膜的化学与结构表征
    WNx薄膜 成核机制 光学性能 结构 磁控溅射 化学状态研究

    采用气体注入磁控溅射(GIMS)技术在硅衬底上合成了氮化钨(WNx)薄膜。通过周期性注入气体剂量来优化GIMS方法中产生的脉冲放电条件,使氮分压维持在10-3至10-1帕量级范围内。与连续溅射技术相比,该方法能增加原子物种的平均自由程并保持其动能。在此条件下我们尝试克服β-W2N相合成中常见的高成核势垒。运用扫描电子显微镜(SEM)和原子力显微镜(AFM)研究了氮化钨薄膜的不同成核机制。针对WNx薄膜的化学键态研究,我们采用拉曼光谱测量和X射线光电子能谱(XPS)进行分析。此外通过X射线衍射(XRD)研究分析了氮化钨的结构环境。就先进应用问题而言,基于光谱椭偏仪结果探讨了这些薄膜的光学特性。

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  • 材料科学与工程实验方案

    1. 实验设计与方法选择:本研究采用气体注入磁控溅射(GIMS)技术在硅衬底上合成氮化钨(WNx)薄膜。该技术通过周期性气体注入维持脉冲放电条件下10^-3至10^-1 Pa的氮分压,从而增强原子团的平均自由程和动能。该设计旨在无需外部加热或偏压的情况下克服β-W2N相合成的成核障碍。 2. 样品选择与数据来源:使用<100>晶向单晶硅衬底(距钨靶80 mm)。薄膜在氮分压比例变化的氩氮混合气体(50%-100% N2)中合成。 3. 实验设备与材料清单:设备包括配备圆形磁控管的真空腔室、钨靶(Φ=50 mm,t=4 mm,纯度>99.9%)、带脉宽调制(PWM)的中频DPS电源、气体注入脉冲阀、原子力显微镜(布鲁克Innova)、扫描电镜(蔡司Ultra Plus)、X射线衍射仪(帕纳科X'Pert,Cu-Kα辐射)、X射线光电子能谱仪(VG Scienta R3000,Al-Kα辐射)、拉曼光谱仪(JASCO NRS 5100,配Crylas FQCW266-50紫外激光器和氩离子激光激发)、椭圆偏振光谱仪(J.A. Woollam V-VASE)。材料包含高纯氮气(N5.0)、氩气和硅衬底。 4. 实验流程与操作步骤:设定等离子体脉冲寿命500 ms,脉冲间隔2000 ms,采用100 kHz主频和1 kHz调制的PWM。优化气体注入频率为0.5 Hz。合成后表征:AFM轻敲模式(2×2 µm²扫描)测表面形貌,45°截面SEM观察,XRD布拉格-布伦塔诺配置(2θ=20°-60°)分析相组成,Ar+溅射后XPS测定化学键合,紫外(266 nm)和可见光(532 nm)激发的拉曼光谱分析振动特性,0.6-6.5 eV范围内65°/70°/75°入射角的椭圆偏振法测定光学常数(n,k)和反射率。 5. 数据分析方法:AFM粗糙度(Ra)通过NanoScope Analysis软件计算;XRD图谱进行物相鉴定;XPS数据经CasaXPS软件处理(高斯-洛伦兹拟合+Shirley背景校正);拉曼光谱用Jasco峰处理软件(混合高斯-洛伦兹函数)分析;椭偏数据通过WVase 32®软件数学反演获取光学参数。

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厂家介绍

Crylas,Crystal Laser Systems GmbH是一家总部位于德国柏林的私营公司。Crylas设计和制造基于微芯片技术的二极管泵浦固态激光器,在UV、VIS和IR中用于科学和OEM,应用于生物技术、分析、成像、传感器系统和微加工。Crylas产品结合了长期稳定性、低噪音、小尺寸和出色的工艺。产品组合包括213 nm至1064 nm的被动调Q脉冲ns激光器和266 nm的DUV CW激光器。

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图片 名称 分类 制造商 参数 描述
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  • C4L-LM118157DS1 Laser Module 激光器模块和系统 C4L-LM118157DS1 激光器模块 激光器模块和系统 Chips 4 Light

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