2024年11月1日,四项传感器行业新规正式生效,标志着我国传感器产业迈入标准化、高质量发展的新阶段。对于电子电工与光电领域而言,这不仅是合规性要求,更是技术升级的催化剂。传感器作为感知物理世界的核心,其性能直接决定了后续电子信号处理与光电转换的精度与可靠性。新规聚焦于精度校准、环境适应性、电磁兼容及长期稳定性,深刻影响着从敏感材料选择、光电转换电路设计到信
FQCW 266-500
低噪声 检测 单频 光谱学 二极管泵浦 连续波 分析 母版制作
FQCW 266-500是一款二极管泵浦连续波固体激光器,具有266nm波长、单频、低噪声、TEM00模式、最大输出功率500mW,并采用风冷设计。
顶刊高频之选
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专业选型
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正规认证
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品质保障
严格把控产品质量,呈现理想的光电产品,确保每一件产品都能满足您的专业需求。
参数
- 标称输出功率 / Nominal Output Power : 500mW
- 输出功率可调范围 / Output Power Adjustability : 50-550mW
- 波长 / Wavelength : 266nm
- 线宽 / Linewidth : <300kHz
- 相干长度 / Coherence Length : >1000m
- 光束质量因子M² / Beam Quality Factor M² : <1.3
- 偏振 / Polarization : vertical, >500:1
- 光斑直径 / Beam Diameter : 1mm±20%
- 光束发散角(全角) / Beam Divergence (Full Angle) : <0.45mrad
- 光束指向稳定性 / Beam Pointing Stability : <3μrad/K
- 静态对准容差 / Static Alignment Tolerance : Position <±0.25mm, Angle <±2.5mrad
- 光学噪声(1Hz-100kHz) / Optical Noise (1Hz-100kHz) : <1%rms
- 光学噪声(100kHz-250MHz) / Optical Noise (100kHz-250MHz) : <0.5%rms
- 线路电压 / Line Voltage : 90-250VAC
- 最大功耗 / Power Consumption Mean (Max) : 200W (450W)
- 通信接口 / Communication Interfaces : USB/RS232/Ethernet
- 安全设备 / Safety Equipment : key switch
- 安全设备 / Safety Equipment : interlock
- 安全设备 / Safety Equipment : shutter
- 控制单元尺寸 / Dimensions (Control Unit) : 483x409x184mm
- 控制单元重量 / Weight (Control Unit) : 11kg
- 尺寸(激光头) / Dimensions (Laser Head) : 739x325x143mm
- 重量(激光头) / Weight (Laser Head) : 35kg
- 工作温度 / Operating Temperature : 20°C to 30°C non-condensing
- 预热时间(冷启动) / Warm-Up Time (Cold Start) : <45min
- 出口窗口净化接口 / Purge Interface For Exit Window : CDA 1.5LPM, 50PSI, SH<10PPM
应用
1. 光谱学 2. 检测 3. 分析 4. 母版制作
特征
1. 266nm波长 2. 连续波输出 3. 单频 4. 低噪声 5. TEM00模式 6. 最大输出功率500mW 7. 风冷设计
图片集
规格书
AI 智能分析
该产品已被1篇SCI论文引用
基于平台30万篇光学领域SCI论文分析
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通过气体注入磁控溅射技术合成的氮化钨(WNx)薄膜的化学与结构表征
WNx薄膜 成核机制 光学性能 结构 磁控溅射 化学状态研究
采用气体注入磁控溅射(GIMS)技术在硅衬底上合成了氮化钨(WNx)薄膜。通过周期性注入气体剂量来优化GIMS方法中产生的脉冲放电条件,使氮分压维持在10-3至10-1帕量级范围内。与连续溅射技术相比,该方法能增加原子物种的平均自由程并保持其动能。在此条件下我们尝试克服β-W2N相合成中常见的高成核势垒。运用扫描电子显微镜(SEM)和原子力显微镜(AFM)研究了氮化钨薄膜的不同成核机制。针对WNx薄膜的化学键态研究,我们采用拉曼光谱测量和X射线光电子能谱(XPS)进行分析。此外通过X射线衍射(XRD)研究分析了氮化钨的结构环境。就先进应用问题而言,基于光谱椭偏仪结果探讨了这些薄膜的光学特性。
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材料科学与工程实验方案
1. 实验设计与方法选择:本研究采用气体注入磁控溅射(GIMS)技术在硅衬底上合成氮化钨(WNx)薄膜。该技术通过周期性气体注入维持脉冲放电条件下10^-3至10^-1 Pa的氮分压,从而增强原子团的平均自由程和动能。该设计旨在无需外部加热或偏压的情况下克服β-W2N相合成的成核障碍。 2. 样品选择与数据来源:使用<100>晶向单晶硅衬底(距钨靶80 mm)。薄膜在氮分压比例变化的氩氮混合气体(50%-100% N2)中合成。 3. 实验设备与材料清单:设备包括配备圆形磁控管的真空腔室、钨靶(Φ=50 mm,t=4 mm,纯度>99.9%)、带脉宽调制(PWM)的中频DPS电源、气体注入脉冲阀、原子力显微镜(布鲁克Innova)、扫描电镜(蔡司Ultra Plus)、X射线衍射仪(帕纳科X'Pert,Cu-Kα辐射)、X射线光电子能谱仪(VG Scienta R3000,Al-Kα辐射)、拉曼光谱仪(JASCO NRS 5100,配Crylas FQCW266-50紫外激光器和氩离子激光激发)、椭圆偏振光谱仪(J.A. Woollam V-VASE)。材料包含高纯氮气(N5.0)、氩气和硅衬底。 4. 实验流程与操作步骤:设定等离子体脉冲寿命500 ms,脉冲间隔2000 ms,采用100 kHz主频和1 kHz调制的PWM。优化气体注入频率为0.5 Hz。合成后表征:AFM轻敲模式(2×2 µm²扫描)测表面形貌,45°截面SEM观察,XRD布拉格-布伦塔诺配置(2θ=20°-60°)分析相组成,Ar+溅射后XPS测定化学键合,紫外(266 nm)和可见光(532 nm)激发的拉曼光谱分析振动特性,0.6-6.5 eV范围内65°/70°/75°入射角的椭圆偏振法测定光学常数(n,k)和反射率。 5. 数据分析方法:AFM粗糙度(Ra)通过NanoScope Analysis软件计算;XRD图谱进行物相鉴定;XPS数据经CasaXPS软件处理(高斯-洛伦兹拟合+Shirley背景校正);拉曼光谱用Jasco峰处理软件(混合高斯-洛伦兹函数)分析;椭偏数据通过WVase 32®软件数学反演获取光学参数。
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