在电子电工与光电技术的交叉领域,工程师们常常需要精确控制光的“姿态”——也就是光的偏振状态。无论是确保光纤元件中的信号传输质量,还是提升精密成像系统的清晰度,光的偏振都扮演着关键角色。此时,一个看似简单却至关重要的光纤元件——波片的作用就凸显出来了。它如同光的“方向盘”,能够精准地调整光束的偏振方向,从而成为激光二极管、光学测量设备乃至高端电工工具中不可或缺
81602A
高功率 光学测量 数据中心 可调谐 硅光子 光子器件测试
Keysight Technologies的81602A可调谐激光器是一款高功率光源,具有出色的波长精度、功率稳定性和快速扫描能力,适用于光子器件测试和硅光子研究。
顶刊高频之选
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专业选型
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正规认证
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品质保障
严格把控产品质量,呈现理想的光电产品,确保每一件产品都能满足您的专业需求。
概述
参数
- 波长范围 / Wavelength Range : 1250nm至1370nm
- 波长分辨率 / Wavelength Resolution : 0.1pm, 17.5MHz在1310nm
- 连续扫描范围 / Continuous Sweep Range : 全波长范围
- 最大扫描速度 / Maximum Sweep Speed : 200nm/s, 双向
- 波长稳定性 / Wavelength Stability : ±0.5pm, 24小时
- 线宽 / Linewidth : ≤10kHz
- 最大输出功率 / Maximum Output Power : +18dBm峰值, +16dBm(1290nm至1340nm), +12dBm(1260nm至1360nm), +10dBm(1250nm至1370nm)
- 旁模抑制比 / Side-Mode Suppression Ratio : ≥70dB(1290nm至1340nm), ≥60dB(全波长范围)
- 相对强度噪声 / Relative Intensity Noise (RIN) : <-150dB/Hz(典型值, 1290nm至1340nm)
- 信号源自发辐射比 / Signal Source Spontaneous Emission Ratio : ≥50dB/0.1nm
- 信噪比 / Signal To Total Source Spontaneous Emission Ratio : ≥40dB
- 绝对波长精度[pm] / Absolute Wavelength Accuracy : ±2pm; 典型值±1.5pm(步进模式), ±1.5pm(连续扫描模式)
- 相对波长精度 / Relative Wavelength Accuracy : ±1.5pm; 典型值±1pm(步进模式), ±1pm(连续扫描模式)
- 波长重复性 / Wavelength Repeatability : ±0.5pm; 典型值±0.2pm(步进模式), ±0.4pm(连续扫描模式)
- 功率重复性 / Power Repeatability : ±0.002dB
- 功率稳定性 / Power Stability : ±0.01dB, 1小时; 典型值±0.025dB, 24小时
- 功率线性度 / Power Linearity : ±0.05dB
- 功率平坦度 / Power Flatness Versus Wavelength : ±0.25dB; 典型值±0.15dB
- 动态功率可重复性 / Dynamic Power Reproducibility : 不适用; ±0.01dB
- 动态相对功率平坦度 / Dynamic Relative Power Flatness : 不适用; ±0.02dB
- 存储温度 / Storage Temperature : -40°C至+70°C
- 工作温度 / Operating Temperature : +10°C至+35°C
- 湿度 / Humidity : <80%RH, +10°C至+35°C, 无冷凝
- 预热时间 / Warm-Up Time : 30分钟(如果之前存储在相同温度下)
- 输出功率规格 / Output Power Specifications : 适用于输出功率大于+10dBm的情况
- 连续扫描模式 / Continuous Sweep Mode : 全波长范围适用于扫描速度≤50nm/s
应用
1. 光子器件测试 2. 硅光子研究 3. 数据中心标准测试 4. 无源组件评估
特征
1. 内置实时波长计,确保波长精度和稳定性 2. 支持连续扫描模式,提供高精度测量 3. PMF输出端口,确保光子器件测试的极高性能 4. 符合ISO 9001国际质量体系标准
图片集
规格书
AI 智能分析
该产品已被2篇SCI论文引用
基于平台30万篇光学领域SCI论文分析
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宽带高均匀性多模锥形分支Y型光束分路器
多模 分束器 宽带宽 高均匀性 锥形分支
本文基于绝缘体上硅平台提出并分析了一种高均匀性、宽带宽的Y型分束器。通过将均匀分支替换为多模锥形分支,显著提升了两个输出端口的带宽和功率均匀性。此外,通过增大分束角降低了对制备精度的敏感性。仿真与实验结果表明:该器件带宽超过100纳米,两个输出端口功率均匀性提升4分贝,插入损耗低于0.6分贝,回波损耗高于26分贝。
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波导集成硅基锗p-i-n光电二极管对中子位移损伤的响应
位移损伤 光子学 辐射效应 中子辐射 光电二极管 光电子器件
已研究了14 MeV中子位移损伤(DD)对硅光子学中波导集成锗硅p-i-n光电二极管(PD)的影响,中子注量最高达7.5×10¹² n/cm²(14 MeV)或1.4×10¹³ n1-MeVeq/cm²(Si)。研究内容包括:150-375 K温度范围内的暗电流-电压特性测量、PD结电容测量、1260 nm至1360 nm波段的光谱响应测量以及频率响应测量。发现这些器件易受DD诱导的载流子移除效应影响;但在所研究的DD剂量水平下,其性能未出现显著退化仍可正常工作。由于PD测试芯片包含将光信号传输至PD的硅光子集成光栅耦合器和波导,因此也可推断DD对这些无源器件的影响。本研究未考察DD的短期退火或瞬态行为,仅关注室温退火初始阶段后残留的永久性损伤。
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光电信息科学与工程实验方案1
1. 实验设计与方法选择:本研究设计了一种带有多模锥形分支的Y型分束器,以提高带宽和功率均匀性。采用理论分析和FDTD仿真方法。 2. 样本选择与数据来源:研究使用均匀分支、S型分支和锥形分支模型进行对比。数据通过仿真和实验制备获取。 3. 实验设备与材料清单:电子束光刻(EBL)加工技术、SOI平台、Keysight 81608A可调光源、Keysight N7744A光功率计。 4. 实验流程与操作步骤:制备过程包括涂覆电子束光刻胶、电子束曝光、刻蚀及沉积SiO2包层。测试环节测量插入损耗和回波损耗。 5. 数据分析方法:计算并比较不同模型的插入损耗和回波损耗。通过移动尖端模拟工艺误差来分析功率均匀性。
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光电信息科学与工程实验方案2
1. 实验设计与方法选择:本研究采用14 MeV中子辐照波导集成硅基锗p-i-n光电二极管,以探究位移损伤效应。测量内容包括暗态电流-电压特性、光电二极管结电容、光谱响应及频率响应。 2. 样本选择与数据来源:三组芯片接受不同注量辐照,另设对照组。分别在辐照前后进行测量。 3. 实验设备与材料清单:设备包括Keithley 2400源测量单元、Keysight E8361C精密网络分析仪及Lake Shore Cryotronics MTD-150闭循环表征系统。 4. 实验流程与操作步骤:器件在无偏置状态下辐照,随后经历室温退火期再进行表征测试。测量覆盖多温度范围及偏置条件。 5. 数据分析方法:通过拟合模型提取结电容和理想因子等参数,并对比辐照前后的性能指标。
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