icrolight高性能光子器件解决方案,覆盖传感、通信、测距与医疗全场景
icrolight 是一家专注于微波光子器件、激光测距、气体传感、光纤应用、光子医疗等领域有源与无源器件研发、生产与销售的高新技术企业。公司拥有先进成熟的技术平台、自动化封装产线与高精度测试系统,可批量交付各类高性能有源、无源光电器件,产品广泛应用于微波光子、电信与数通、5G/RF 射频光传输、医疗检测、测试仪器、光纤传感、卫星雷达信号光传输、激光雷达、量子通信、气体传感等核心领域。
光学测量 光电设备 高精度 动态校准 Keysight
Keysight 5530动态校准器是一款高精度的光学测量设备,专为线性距离、角度位置、平面度和直线度测量而设计。
顶刊高频之选
严格把控产品质量,呈现理想的光电产品,确保每一件产品都能满足您的专业需求。
概述
参数
应用
1. 高精度线性距离测量 2. 角度位置测量 3. 平面度测量 4. 直线度测量
特征
1. 高精度测量 2. 支持多种测量模式 3. 兼容多种传感器
图片集
规格书
AI 智能分析
该产品已被1篇SCI论文引用
基于平台30万篇光学领域SCI论文分析
在扫频偏振调制测距中,距离是通过发射与返回波同相时调制波的频率及相应波长倍数来确定的。然而,频率和波长倍数的测量会受到偏振波热致相位延迟的影响。本文系统阐述了该测距方法的原理,并分析了热致相位延迟的影响。我们提出了新的测量方法以消除对频率和波长倍数的影响。理论分析和实验结果证明了这些方法的有效性和适用性。
查看全文 >1. 实验设计与方法选择:本研究建立了FSPM测距系统的理论模型以分析热致相位延迟效应。提出了两种补偿方法:通过往复扫描法提高频率测量精度,采用多频间隔法优化波长倍数确定。实验装置包含激光器、隔离器、偏振分束器、电光调制器、四分之一波片、扩束镜和目标靶等组件的扫频偏振调制测距系统。 2. 样本选择与数据来源:目标靶置于系统约80米处。通过2.500至2.520 GHz频段扫描采集数据,步进频率1 kHz,每个频率驻留时间20毫秒。 3. 实验设备与材料清单:包括He-Ne激光器(Newport R-32734)、高频相位调制器(Newport 4431)、信号发生器(Keysight N5171B)、雪崩探测器(Thorlabs APD410A)、PXI示波器(NI 5171R)、偏振分析系统(Thorlabs PAX5710)、高精度温控器(Wavelength Tc_lab)及用于验证的商业化外差干涉仪(Keysight 5519)。 4. 实验流程与操作规范:按图1搭建系统。通过正反向频扫实施往复扫描法,多频间隔法通过测量多个"同相"频率计算频间隔与波长倍数。实验过程中同步监测温度与相位延迟。 5. 数据分析方法:采用统计方法计算均方值、标准差及残差,通过线性拟合将实测距离与干涉仪参考位移进行比对。
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