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5519B 激光器模块和系统

5519B

分类: 激光器模块和系统

厂家: Keysight Technologies

产地: 美国

型号: 5519B

更新时间: 2026-03-07T03:13:15.000Z

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光学测量 光电设备 高精度 动态校准 Keysight

Keysight 5530动态校准器是一款高精度的光学测量设备,专为线性距离、角度位置、平面度和直线度测量而设计。

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概述

Keysight 5530动态校准器是一款高精度的光学测量设备,专为线性距离、角度位置、平面度和直线度测量而设计。

参数

  • 激光类型 / Laser Type : 氦氖激光器,自动调谐Zeeman分裂双频输出
  • 真空波长 / Vacuum Wavelength : 632.991354nm
  • 波长准确度 / Wavelength Accuracy : ±0.1ppm
  • 波长稳定性(短期) / Wavelength Stability (Short Term) : ±0.002ppm
  • 波长稳定性(长期) / Wavelength Stability (Long Term) : ±0.02ppm
  • 光束直径 / Beam Diameter : 6mm
  • 光束中心间距 / Beam Centerline Spacing : 11mm
  • 线性距离测量范围 / Linear Distance Measurement Range : 0-40m(短程光学)/0-80m(长程光学)
  • 线性距离测量分辨率 / Linear Distance Measurement Resolution : 1nm(短程光学)/0.25nm(高分辨率平面镜光学)
  • 线性距离测量精度 / Linear Distance Measurement Accuracy : ±0.4ppm(空气传感器)/±0.1ppm(真空)
  • 角度测量范围 / Angular Measurement Range : ±10°(光学基座旋转)/±20°(光学中心旋转)
  • 角度测量分辨率 / Angular Measurement Resolution : 0.005角秒
  • 角度测量精度 / Angular Measurement Accuracy : ±0.2%显示值
  • 平面度测量范围 / Flatness Measurement Range : 15m
  • 平面度测量精度 / Flatness Measurement Accuracy : ±0.2%显示值
  • 平面度测量分辨率 / Flatness Measurement Resolution : 0.03μm(50.8mm间距)/0.05μm(101.6mm间距)/0.08μm(152.4mm间距)
  • 直线度测量范围 / Straightness Measurement Range : 1-30m(长程光学)/0.1-3m(短程光学)
  • 直线度测量分辨率 / Straightness Measurement Resolution : 0.01μm(短程光学)/0.1μm(长程光学)
  • 直线度测量精度 / Straightness Measurement Accuracy : ±5%(长程光学)/±3.5%(短程光学)
  • 工作温度 / Operating Temperature : 0-40°C
  • 相对湿度 / Relative Humidity : 10%-90%
  • 绝对压力 / Absolute Pressure : 70-110kPa
  • 温度控制精度 / Temperature Accuracy : ±0.1°C
  • 材料膨胀系数范围 / Material Expansion Coefficient Range : -100至+100ppm/°C或°F

应用

1. 高精度线性距离测量 2. 角度位置测量 3. 平面度测量 4. 直线度测量

特征

1. 高精度测量 2. 支持多种测量模式 3. 兼容多种传感器

图片集

5519B图1
5519B图2
5519B图3
5519B图4
5519B图5
5519B图6
5519B图7
5519B图8
5519B图9
5519B图10

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  • 扫频偏振调制测距系统中的频率漂移补偿
    误差补偿 扫频偏振调制测距 绝对距离测量 频率漂移

    在扫频偏振调制测距中,距离是通过发射与返回波同相时调制波的频率及相应波长倍数来确定的。然而,频率和波长倍数的测量会受到偏振波热致相位延迟的影响。本文系统阐述了该测距方法的原理,并分析了热致相位延迟的影响。我们提出了新的测量方法以消除对频率和波长倍数的影响。理论分析和实验结果证明了这些方法的有效性和适用性。

    查看全文 >
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  • 精密仪器实验方案

    1. 实验设计与方法选择:本研究建立了FSPM测距系统的理论模型以分析热致相位延迟效应。提出了两种补偿方法:通过往复扫描法提高频率测量精度,采用多频间隔法优化波长倍数确定。实验装置包含激光器、隔离器、偏振分束器、电光调制器、四分之一波片、扩束镜和目标靶等组件的扫频偏振调制测距系统。 2. 样本选择与数据来源:目标靶置于系统约80米处。通过2.500至2.520 GHz频段扫描采集数据,步进频率1 kHz,每个频率驻留时间20毫秒。 3. 实验设备与材料清单:包括He-Ne激光器(Newport R-32734)、高频相位调制器(Newport 4431)、信号发生器(Keysight N5171B)、雪崩探测器(Thorlabs APD410A)、PXI示波器(NI 5171R)、偏振分析系统(Thorlabs PAX5710)、高精度温控器(Wavelength Tc_lab)及用于验证的商业化外差干涉仪(Keysight 5519)。 4. 实验流程与操作规范:按图1搭建系统。通过正反向频扫实施往复扫描法,多频间隔法通过测量多个"同相"频率计算频间隔与波长倍数。实验过程中同步监测温度与相位延迟。 5. 数据分析方法:采用统计方法计算均方值、标准差及残差,通过线性拟合将实测距离与干涉仪参考位移进行比对。

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厂家介绍

是德科技公司(NYSE:KEYS)是全球领先的电子测量公司,通过无线、模块化和软件解决方案的创新改变当今的测量体验。凭借惠普和安捷伦的传统,是德科技凭借世界一流的平台、软件和一致的测量科学,为无线通信、航空航天、国防和半导体市场提供解决方案。该公司拥有9,500多名员工,为100多个国家的客户提供服务。

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图片 名称 分类 制造商 参数 描述
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    The SLS-1XX series of fixed light sources is a highly configurable benchtop system offering many different options for light sources. Three versions are available: the SLS-100, a fixed bank of up to 24 discrete LED or laser sources that can be mixed and matched with different source types, wavelengths, or fiber types in one box; the SLS-110, a switched optical source with internal sources that can be combined and switched at the output, enabling combined wavelengths (e.g., 24 channels with 1310/1490/1550/1625 nm) out of many ports; and the SLS-120, a fixed bank of light sources dedicated to CWDM DFB laser sources covering all ITU-T G.694.2 channels from 1270 to 1610 nm (20 nm spacing) with standard 1 mW DFB sources, or optional 10 mW/20 mW DFB lasers with at least 30 dB side mode suppression ratio. Each system comes in either a half-rack or full-rack 2U enclosure, supports common connector types (SC, LC, FC, ST, etc.), and offers USB and Ethernet communication interfaces for automation integration. Thanks to excellent power and wavelength stability, no calibration is required unless specified by quality processes.

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