光谱Alyzer TEXTILE

ArcSpectro VIS-NIR是一种实验室光谱仪，设计用于在整个VIS NIR光谱范围内测量固体样品的漫反射率。该系统包括用于对样品进行漫反射测量的积分球。只需5秒钟即可获得准确的结果。适用于油漆、纺织品或原材料反射率表征。该仪器是测量太阳总反射率（TSR）值的理想仪器。此参数由附带的软件自动计算。

CropScan 2000B是一款灵活的近红外透射分光光度计，能够测量谷物、油籽、面粉、粗粉和其他加工谷物产品中的蛋白质、油、淀粉、纤维和水分。CropScan 2000B使用一系列专为不同应用设计的样品池。有3个谷物细胞，即8毫米-油菜和亚麻籽，16毫米-小麦，大麦，燕麦，高粱，水稻，扁豆，和24毫米-玉米，大豆，羽扇豆，鹰嘴豆，豆类。有2个用于粉末和浆料的挤压单元。有一个10毫米的液体池，可用于油和其他透明液体。CropScan 2000B具有内置打印机，可连接到外部电子秤，用于测量测试重量。CropNet谷物数据管理软件可与CropScan 2000B一起使用，以存储和管理数据，并将其发布到互联网上，以便使用智能手机、平板电脑或PC进行远程查看。

CropScan 3000F面粉和谷物分析仪是一种近红外透射分光光度计，能够在不到60秒的时间内测量谷物中的蛋白质和水分，以及面粉中的蛋白质、水分、灰分、吸水性和淀粉损伤。CropScan 3000F使用旋转样品盘收集谷物、油籽、粗面粉、面粉、粗粉和其他粉状材料的多个扫描。可以收集多达30个子扫描并进行平均，以提供更精确的测量。样品装载简单快捷。对于面粉加工和面食制造行业，CropScan 3000F是先进个为全谷物和粉末提供简单而精确的测量系统的NIR分析仪。内置的触摸屏PC为用户提供了一个简单的界面，但却是一个全面的软件，用于存储和管理为即将到来的谷物、加工中的面粉流以及成品面粉和膳食产品收集的数据。PC包括无线和以太网连接，因此数据可以通过公司网络无缝传输。

Rigaku NEX QC能量色散X射线荧光（EDXRF）分析仪可快速定性和定量测定各种样品类型中的主要和次要原子元素：非破坏性分析NA至non-U固体、液体、合金、粉末和薄膜用于宽元素覆盖的50kV X射线管半导体探测器，数据质量高现代智能手机风格的“图标驱动”用户界面增强灵敏度的多个自动管过滤器方便的内置热敏打印机低成本，无与伦比的性价比

波长范围: 1.0 to 2.6 µm

Thorlabs Inc的OSA203B是一款光谱分析仪，波长范围为1.0至2.6µm，波长分辨率光谱分辨率：7.5 GHz（0.25 cm-1），波长精度光谱精度：±2 ppmf，动态范围光抑制比：30 dB，光功率范围10 MW（10 dBm）。有关OSA203B的更多详细信息，请参见下文。