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2830 ZT波长色散X射线荧光（WDXRF）晶片分析仪提供了测量薄膜厚度和成分的先进能力。2830 ZT晶片分析仪专为半导体和数据存储行业而设计，可用于测定厚度达300 mm的各种晶片的层成分、厚度、掺杂剂水平和表面均匀性。请求报价

CropScan 2000B是一款灵活的近红外透射分光光度计，能够测量谷物、油籽、面粉、粗粉和其他加工谷物产品中的蛋白质、油、淀粉、纤维和水分。CropScan 2000B使用一系列专为不同应用设计的样品池。有3个谷物细胞，即8毫米-油菜和亚麻籽，16毫米-小麦，大麦，燕麦，高粱，水稻，扁豆，和24毫米-玉米，大豆，羽扇豆，鹰嘴豆，豆类。有2个用于粉末和浆料的挤压单元。有一个10毫米的液体池，可用于油和其他透明液体。CropScan 2000B具有内置打印机，可连接到外部电子秤，用于测量测试重量。CropNet谷物数据管理软件可与CropScan 2000B一起使用，以存储和管理数据，并将其发布到互联网上，以便使用智能手机、平板电脑或PC进行远程查看。

基于成熟的Epsilon 3系列XRF光谱仪的经验和成功，Epsilon 4是一款多功能台式XRF分析仪，适用于从研发到过程控制领域需要从氟（F）到镅（Am）元素分析的任何行业。将较新的激发和检测技术与成熟的软件和智能设计相结合，Epsilon 4的分析性能接近更强大的落地式XRF光谱仪。

APEX Technologies的AP2047B是一款光谱分析仪，波长范围为1520至1630 nm、1265至1345 nm，波长分辨率为80 pm至3.2nm@10至400 GHz，波长精度为±2至±3 pm，动态范围为79 dB（1265 nm至1345 nm）、83 dB（1525 nm至1607 nm），18 nm的扫描时间为1秒。有关AP2047B的更多详细信息，请参见下文。

波长范围: 600 to 1700 nm谱带: Optical communications

横河电机公司生产的AQ6370D是一款光谱分析仪，其波长范围为600~1700nm，波长分辨率为0.02~2nm，波长精度为±0.02~0.10nm，动态范围为50~78dB，扫描时间为0.2S、1s、5S、20s、75s.有关AQ6370D的更多详细信息，请参阅下文。