全部产品分类
光电二极管MID-IR-PD-43-03-TO 光电探测器

光电二极管MID-IR-PD-43-03-TO

立即咨询获取报价获取报价收藏 收藏 下载规格书 下载规格书
德国
分类:光电探测器

更新时间:2024-04-19 14:40:59

型号:

概述

光电二极管PD 43-03设计用于探测3000-4600nm中红外光谱范围内的辐射。它们由与InAs衬底晶格匹配的窄带隙InAsSbP/InAs基异质结构制成。

参数

  • 二极管类型 / Diode Type: : InAsSbP
  • 工作波长 / Wavelength Of Operation: : 4600nm

图片集

光电二极管MID-IR-PD-43-03-TO图1

规格书

厂家介绍

法兰克福激光公司(FLC)由Vsevolod Mazo博士于1994年创立,25年来一直是半导体激光器的较好公司之一。几乎没有一种激光产品在这里找不到。该公司提供从紫外、可见光范围到红外和远红外的激光源、激光二极管、超发光二极管、激光模块、激光系统、DPSS激光器或中红外LED,包括单模和多模、自由空间光束和光纤耦合。

相关产品

图片名称分类制造商参数描述
  • 光电查
    CLD240 Silicon Photodiodes光电探测器Clairex Technologies

    CLD240系列是旧款CLD140系列的全新直接替代品,具有更大的(0.060 X 0.060)有效面积硅PIN光电二极管芯片。此外,它还具有更快的开关速度和更低的结电容。提供三种不同的透镜选项,可满足大多数应用要求。联系Clairex了解其他包装选项。

  • 光电查
    Large Area InGaAs PIN Photodiodes FD1000W光电探测器Fermionics

    用于红外仪器和传感应用的大面积、高灵敏度光电二极管。在800nm至1700nm范围内的高光谱响应。感光区直径为1毫米。平面钝化器件结构。

  • 光电查
    Low Noise 400 kHz Photoreceiver With Si PIN Photodiode LCA-S-400K-SI光电探测器FEMTO Messtechnik GmbH

    通过将较先进的光电二极管与久经考验的出色Femto LCA电流放大器技术相结合,我们设计了具有卓越性能的新型光电接收器系列。LCA-S-400K可用于大面积Si或InGaAs光电二极管,分别覆盖400至1100 nm和900至1700 nm的光谱范围。放大器的跨阻为107V/A,在1550nm处的较大转换增益为9.5×106V/W。由于跨阻放大器的低噪声性能,较小噪声等效功率(NEP)低至75 FW/√Hz,因此无需进一步求平均值即可检测纳瓦范围内的光信号。

  • 光电查
    UPD-100-IR1-P光电探测器ALPHALAS

    光电探测器类型: Avalanche波长范围: 400 to 2000 nm

    来自AlphaLas的UPD-100-IR1-P是波长范围为400至2000nm、上升时间为100ps、暗电流为700nA、带宽为3GHz、有源区直径为0.005mm的光学探测器。有关UPD-100-IR1-P的更多详细信息,请参阅下文。

  • 光电查
    FP1015c光电探测器Freedom Photonics

    波长范围: 1550 nm

    Freedom Photonics的FP1015C是一款光学探测器,波长范围为1550 nm,带宽为60至65 GHz,响应度/光敏度为0.1至0.15 A/W.有关FP1015C的更多详细信息,请参见下文。

相关文章

  • 什么是比尔-朗伯特定律(Beer-Lambert's Law)?

    比尔-朗伯特定律是朗伯特定律(1730年)和比尔定律(1850年)的结合,它制约着低浓度的分子对光辐射的吸收。

  • 单质子照亮钙钛矿纳米晶基透射薄闪烁体

    新加坡国立大学(NUS)的研究人员利用钙钛矿纳米晶体开发了一种透射式薄闪烁体,用于实时跟踪和计数单个质子。这种特殊的灵敏度归因于质子诱导的上转换和冲击电离产生的双激子辐射发射。

  • 受植物光合作用启发的新型光电探测器

    光电探测器也被称为光敏器,将光能转变为电信号。多年来,科学家们一直设想开发新型检测器,以发展卓越的太阳能电池。

  • 超导纳米线单光子探测器内禀暗计数的几何起源

    由中国科学院上海微系统与信息技术研究所(SIMIT)游力行研究员和李浩研究员领导的团队采用了一种新颖的差分读出方法,研究了有人工几何约束和无人工几何约束的SNSPD中iDC的空间分布。这种方法可以精确描述 iDCs 的空间来源,揭示探测器内微小几何约束的重要影响。