OMS LaserPoint LP01激光多普勒测振仪

228光学波长计采用成熟的基于光学干涉仪的设计，以较高精度测量CW激光器的波长。提供两个版本。228A型是较精确的，测量波长的精度为±0.3 pm。对于不太严格的测试要求，228B型是一种价格较低的替代产品，波长精度为±1.0 pm。

671激光波长计采用基于迈克尔逊干涉仪的成熟设计来测量CW激光器的绝对波长。有两个版本可用。671A型是较精确的，测量波长的精度为百万分之±0.2（1000 nm时为±0.0002 nm）。对于不太严格的实验，671B型是一种价格较低的替代产品，精度为百万分之±0.75（1000 nm时为±0.0008 nm）。

新一代显微薄膜、表面和材料计量工具采用自动归零椭圆偏振术和显微镜相结合的方法，能够以小至1微米的横向分辨率进行表面表征。这能够分辨比大多数非成像椭偏仪小1000倍的样品区域，即使它们使用微点光谱选项。Nanofilm_EP4使用各种独特的功能，允许实时可视化您的表面。您将在微观尺度上看到样品的结构，并测量厚度、折射率和吸收等参数。可以记录选定区域的3D剖面图。与AFM、QCM-D、反射计、拉曼光谱等其他技术的仪器组合有可能从您的样品中获得更多信息。

OMS LaserScan LS01扫描激光多普勒测振仪是一款小巧、便携、价格极具竞争力且易于使用的精密仪器，可用于任何表面的全场无损检测和非接触式振动测量。LaserScan LS01使用专利的LaserPoint引擎以及计算机控制的扫描镜和综合软件包，可快速生成任何表面的振动图。该系统经过优化，可测量约半米至五米的距离，因此无需调整、镜头附件或物体处理，从而确保较高水平的测量精度。

Nanofilm_RSE是一种特殊类型的椭偏仪，它将样品与参考进行比较。以这种方式，可以测量样品和参考之间的椭圆偏振差。由于参考的取向，在测量过程中不需要移动或调制任何光学元件，并且可以在单次测量中获得完整的高分辨率光谱。通过这种方式，每秒可获得100个光谱。同步X-Y平台能够在几分钟内采集大视场薄膜厚度图。参考光谱椭偏仪将椭偏仪的高灵敏度和层厚区域（0.1nm-10µm）与市场上可用的较高速度相结合。与激光椭偏仪相比，它包括450和900nm之间的光谱信息。这在处理层的一个以上参数是可变的情况下是重要的，例如厚度和光密度。