OMS LaserPoint LP01-HF 激光多普勒测振仪

228光学波长计采用成熟的基于光学干涉仪的设计，以较高精度测量CW激光器的波长。提供两个版本。228A型是较精确的，测量波长的精度为±0.3 pm。对于不太严格的测试要求，228B型是一种价格较低的替代产品，波长精度为±1.0 pm。

438系列多波长计将基于迈克尔逊干涉仪的成熟技术与快速傅里叶变换分析相结合，以测量多达1000个离散光信号的波长、功率和光信噪比。凭借高精度、高达10 Hz的测量速率以及1000至1680 nm的宽工作范围等特性，438型可提供较精确、高效和通用的WDM波长测试，以满足任何制造工程师的需求。

671激光波长计采用基于迈克尔逊干涉仪的成熟设计来测量CW激光器的绝对波长。有两个版本可用。671A型是较精确的，测量波长的精度为百万分之±0.2（1000 nm时为±0.0002 nm）。对于不太严格的实验，671B型是一种价格较低的替代产品，精度为百万分之±0.75（1000 nm时为±0.0008 nm）。

纳米薄膜_EP4BAM是EP4成像椭偏平台的一种特殊配置。是一种理想的薄膜成像系统，可升级为成像椭偏仪。这是一个完全无需动手的计算机控制系统，使用专有的电机控制电路。Nanofilm_EP4BAM可直接在显示器上显示样品的实时图像，并具有重要的图像处理功能。物镜扫描仪为整体聚焦图像提供了扩展的景深。高功率绿色激光器和出色的物镜相结合，可实现1微米的横向分辨率，这是目前CCD光学探测器的极限。强大的软件使操作变得简单方便。作为一个完整的解决方案，该系统包括计算机、电子设备和所有必要的软件，用于在您现有的槽上或使用我们的集成槽之一开始测量。水槽是一个单独的项目，不包括在标准中。

Xplor 100是一种先进的全自动计量装置，设计用于测量和分析可见光和NIR波段的光学基板的气泡和夹杂物。