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OEwaves同调激光器相位噪声和线宽测试系统 光束分析仪配件

OEwaves同调激光器相位噪声和线宽测试系统

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美国
厂家:OEwaves

更新时间:2024-04-19 14:40:59

概述

OEwaves的超窄激光线宽和频率噪声测量系统采用零差方法进行自动测量,能够测试超低相位噪声激光源。用户友好的测试系统能够快速测量激光源的<10Hz洛伦兹线宽,而不需要进行这种窄线宽测量通常所需的复杂设置。这种基于零差的系统在宽带测量中是少有的,不需要另一个低噪声参考激光源。整个系统操作简单,速度快,精度高,通过PC提供简单的图形用户界面,无需任何额外的测试设备。无与伦比的超低相位/频率噪声测量系统可扩展到各种输入波长,并能够进行可选的低相对强度噪声(RIN)测量。

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OEwaves同调激光器相位噪声和线宽测试系统图1
OEwaves同调激光器相位噪声和线宽测试系统图2
OEwaves同调激光器相位噪声和线宽测试系统图3
OEwaves同调激光器相位噪声和线宽测试系统图4
OEwaves同调激光器相位噪声和线宽测试系统图5
OEwaves同调激光器相位噪声和线宽测试系统图6

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厂家介绍

Oewaves,Inc.总部位于加利福尼亚州帕萨迪纳市,是创新微波-光子产品和解决方案的做的较好的。OEwaves开发较先进的技术,并为商业和军事市场提供支持通信、传感器、雷达/激光雷达、稳定时钟以及测试和测量系统的产品。

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