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成像椭圆仪Nanofilm-ep4 光学计量

成像椭圆仪Nanofilm-ep4

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德国
分类:光学计量
厂家:Halcyonics GmbH

更新时间:2024-04-19 14:40:59

型号:

概述

新一代显微薄膜、表面和材料计量工具采用自动归零椭圆偏振术和显微镜相结合的方法,能够以小至1微米的横向分辨率进行表面表征。这能够分辨比大多数非成像椭偏仪小1000倍的样品区域,即使它们使用微点光谱选项。Nanofilm_EP4使用各种独特的功能,允许实时可视化您的表面。您将在微观尺度上看到样品的结构,并测量厚度、折射率和吸收等参数。可以记录选定区域的3D剖面图。与AFM、QCM-D、反射计拉曼光谱等其他技术的仪器组合有可能从您的样品中获得更多信息。

参数

  • 光谱范围 / Spectral Range: : 250 - 1700 nm
  • 光谱分辨率 / Spectral Resolution: : 300nm
  • 入射角 / Angle Of Incidence: : 1 - 1 deg

图片集

成像椭圆仪Nanofilm-ep4图1

规格书

厂家介绍

自1991年以来,Accurion已成为成像椭偏仪和布鲁斯特角显微镜的做的较好的。我们的主要专长是将光学表面分析与显微镜技术相结合。这使得能够在微观特征(如MEMS、微流体、生物阵列、OLED像素等)上对表面和薄膜进行非接触表征。 我们的系统已用于石墨烯和2D材料、喷墨打印、集成光子学和波导、脂质层等新应用,并且其数量正在增加。 系统的模块化和大量附件允许用于科学研究以及生产线的集成设备。

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