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布鲁斯特角度显微镜 Nanofim-ep4-bam 光学检测

布鲁斯特角度显微镜 Nanofim-ep4-bam

分类: 光学检测

厂家: Halcyonics GmbH

产地: 德国

更新时间: 2026-04-22T15:54:00.000Z

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高分辨率 光学测量 模块化设计 薄膜表征 成像椭偏仪

Nanofilm_EP4是一款高分辨率成像椭偏仪,结合了显微镜和自动成像椭偏技术,能够以1微米的横向分辨率对薄膜和表面进行表征。

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概述

Nanofilm_EP4是一款高分辨率成像椭偏仪,结合了显微镜和自动成像椭偏技术,能够以1微米的横向分辨率对薄膜和表面进行表征。

参数

  • 椭偏仪类型 / Ellipsometer Type : 自动成像椭偏仪
  • 开放框架设置 / Open Frame Setup : 铝制框架,支持多种配置
  • 成像光学 / Imaging Optics : 焦点扫描仪,支持多种物镜
  • 光源 / Light Sources : 激光、卤素灯、光谱测量包
  • 电动测角仪 / Motorized Goniometer : 自动角度调整,范围52°- 90°
  • Z轴 / Z-Axis : 自动高度调整,范围50mm
  • 摄像机探测器 / Camera Detector : 高分辨率CCD相机,支持UV和NIR升级
  • 样品对准传感器 / Sample Alignment Sensor : 精确对准样品,误差小于1微米
  • 电源 / Power Supply : 100-240V, 50/60Hz, 10A

应用

1. 石墨烯的厚度和光学特性测量 2. 太阳能电池的非均匀性分析 3. 自组装单分子层的厚度和表面特性研究 4. 单分子层的浮动行为研究 5. 蛋白质相互作用的动力学测量 6. Brewster角显微镜研究

特征

1. 结合显微镜和自动成像椭偏技术,实现1微米的横向分辨率 2. 支持250-1700nm波长范围内的成像椭偏测量 3. 可集成其他技术平台,如拉曼光谱、反射光谱等 4. 模块化设计,支持多种配置和扩展 5. 提供高分辨率的实时表面和薄膜可视化

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布鲁斯特角度显微镜 Nanofim-ep4-bam图1
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厂家介绍

自1991年以来,Accurion已成为成像椭偏仪和布鲁斯特角显微镜的做的较好的。我们的主要专长是将光学表面分析与显微镜技术相结合。这使得能够在微观特征(如MEMS、微流体、生物阵列、OLED像素等)上对表面和薄膜进行非接触表征。 我们的系统已用于石墨烯和2D材料、喷墨打印、集成光子学和波导、脂质层等新应用,并且其数量正在增加。 系统的模块化和大量附件允许用于科学研究以及生产线的集成设备。

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