428B多波长仪

428多波长测量仪将成熟的基于迈克尔逊干涉仪的技术与快速傅里叶变换分析相结合，以测量多达1000个离散光信号的波长、功率和OSNR。波长测量精度高达±0.3 pm，功率测量精度为±0.5 dB。此外，428系统会自动计算OSNR，使其大于40 dB。

828系列高速光学波长计采用干涉仪技术，该技术与用于WDM波长测试应用的其他波长计所采用的技术有很大不同。Fizeau标准具设计用于产生由快速InGaAs光电探测器阵列检测的空间干涉图。使用板载数字信号处理器，干涉测量数据被快速处理为精确的波长测量。这些技术的组合提供了无与伦比的1 kHz持续测量速率。

纳米薄膜_EP4BAM是EP4成像椭偏平台的一种特殊配置。是一种理想的薄膜成像系统，可升级为成像椭偏仪。这是一个完全无需动手的计算机控制系统，使用专有的电机控制电路。Nanofilm_EP4BAM可直接在显示器上显示样品的实时图像，并具有重要的图像处理功能。物镜扫描仪为整体聚焦图像提供了扩展的景深。高功率绿色激光器和出色的物镜相结合，可实现1微米的横向分辨率，这是目前CCD光学探测器的极限。强大的软件使操作变得简单方便。作为一个完整的解决方案，该系统包括计算机、电子设备和所有必要的软件，用于在您现有的槽上或使用我们的集成槽之一开始测量。水槽是一个单独的项目，不包括在标准中。

新一代显微薄膜、表面和材料计量工具采用自动归零椭圆偏振术和显微镜相结合的方法，能够以小至1微米的横向分辨率进行表面表征。这能够分辨比大多数非成像椭偏仪小1000倍的样品区域，即使它们使用微点光谱选项。Nanofilm_EP4使用各种独特的功能，允许实时可视化您的表面。您将在微观尺度上看到样品的结构，并测量厚度、折射率和吸收等参数。可以记录选定区域的3D剖面图。与AFM、QCM-D、反射计、拉曼光谱等其他技术的仪器组合有可能从您的样品中获得更多信息。

OMS LaserPoint LP01-HF（高频）是LP01激光多普勒测振仪的升级版，可将振动频率范围扩展至100 kHz。LP01-HF提供同样易于使用的操作以及同样紧凑的系统尺寸。该系统可以通过将激光束瞄准较远5米的任何距离的目标来立即使用，而不需要任何光学或机械调整。系统输出是与目标速度成正比的模拟电压，可通过示波器、频谱仪或数据采集系统轻松查看。LaserPoint激光测振仪包括两个速度范围和一系列低通滤波器选项，以优化输出信号的质量。