428A多波长仪

428多波长测量仪将成熟的基于迈克尔逊干涉仪的技术与快速傅里叶变换分析相结合，以测量多达1000个离散光信号的波长、功率和OSNR。波长测量精度高达±0.3 pm，功率测量精度为±0.5 dB。此外，428系统会自动计算OSNR，使其大于40 dB。

438系列多波长计将基于迈克尔逊干涉仪的成熟技术与快速傅里叶变换分析相结合，以测量多达1000个离散光信号的波长、功率和光信噪比。凭借高精度、高达10 Hz的测量速率以及1000至1680 nm的宽工作范围等特性，438型可提供较精确、高效和通用的WDM波长测试，以满足任何制造工程师的需求。

OMS LaserPoint LP01-HF（高频）是LP01激光多普勒测振仪的升级版，可将振动频率范围扩展至100 kHz。LP01-HF提供同样易于使用的操作以及同样紧凑的系统尺寸。该系统可以通过将激光束瞄准较远5米的任何距离的目标来立即使用，而不需要任何光学或机械调整。系统输出是与目标速度成正比的模拟电压，可通过示波器、频谱仪或数据采集系统轻松查看。LaserPoint激光测振仪包括两个速度范围和一系列低通滤波器选项，以优化输出信号的质量。

Nanofilm_RSE是一种特殊类型的椭偏仪，它将样品与参考进行比较。以这种方式，可以测量样品和参考之间的椭圆偏振差。由于参考的取向，在测量过程中不需要移动或调制任何光学元件，并且可以在单次测量中获得完整的高分辨率光谱。通过这种方式，每秒可获得100个光谱。同步X-Y平台能够在几分钟内采集大视场薄膜厚度图。参考光谱椭偏仪将椭偏仪的高灵敏度和层厚区域（0.1nm-10µm）与市场上可用的较高速度相结合。与激光椭偏仪相比，它包括450和900nm之间的光谱信息。这在处理层的一个以上参数是可变的情况下是重要的，例如厚度和光密度。

Xplor 100是一种先进的全自动计量装置，设计用于测量和分析可见光和NIR波段的光学基板的气泡和夹杂物。