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15毫米ZO晶体石英波板14WPZO.2-1030-15 偏振光学元件

15毫米ZO晶体石英波板14WPZO.2-1030-15

分类： 偏振光学元件

厂家： Altos Photonics, Inc.

产地： 美国

更新时间： 2024-08-27T09:50:21.000Z

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概述

波片是由具有双折射特性的材料制成的，通过双折射材料的非寻常光和寻常光的速度与它们的折射率成反比，当两束光复合时，这种速度上的差异会引起相位差。在任何特定波长下，相位差由延迟器-波片的厚度决定。ZO波片由两块石英波片构成，其快轴相互交叉。两块板之间的厚度差决定了延迟。

参数

  • 波形板类型 / Waveplate Type : Zero Order
  • 材料 / Material : Quartz
  • 安装 / Mounting : Mounted
  • 形状 / Shape : Round
  • 尺寸 / Size : 15mm
  • 迟钝 / Retardation : Lambda/2
  • 延迟精度 / Retardation Accuracy : +/- Lambda/500
  • 波前失真 / Wavefront Distortion : <= Lambda/8
  • 表面质量 / Surface Quality (Scratch-Dig) : 20-10

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厂家介绍

自 1995 年以来，我们一直与客户和供应商合作，以实现突破性技术、创新产品和前沿研究。我们一直参与关键技术的收购和许可，以协助初创企业和成熟公司。我们的供应商包括 EKSPLA、Light Conversion、EKSMA Optics、Standa、LaserShield 和 TMC。

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图片 名称 分类 制造商 参数 描述
  • PolSNAP 偏振光学元件 PolSNAP 偏振光学元件 GMP SA

    波长范围: 450-700nm 波长范围: 800-1600nm 动态范围: -37dBm - 3dBm

    PolSNAP是一款由Hinds Instruments公司推出的紧凑型斯托克斯偏振仪，专注于快速测量光源或光学器件的偏振状态。

  • 2-MGEM Ellipsometer椭偏仪 偏振光学元件 2-MGEM椭圆度计椭偏仪 偏振光学元件 Hinds Instruments Inc

    测量点大小: ~5μm 线性延迟: 自动计算 反射强度: 自动计算

    Hinds Instruments的2-MGEM椭偏仪是一种用于测量样品的穆勒矩阵的法向入射偏振反射显微镜。该系统专为评估TRISO核燃料的热解碳层的光学各向异性因子（OPTAF）而设计，具有更快、更准确的数据采集能力。

  • Exicor 150XT穆勒偏振测量仪 偏振光学元件 Exicor 150XT穆勒偏振测量仪 偏振光学元件 Hinds Instruments Inc

    线性延迟范围: 0至316.4nm 线性延迟分辨率/重复性: 0.01nm/±0.03nm 线性延迟角分辨率/重复性: 0.01°/±0.05°

    Exicor 150XT是一款高性能的穆勒偏振测量仪，能够同时测量所有16个穆勒矩阵元素和样品的完全偏振特性，适用于光学、化学和生物化学领域的多种应用。

  • PolSNAP紧凑型斯托克斯偏光计 偏振光学元件 PolSNAP紧凑型斯托克斯偏光计 偏振光学元件 Hinds Instruments Inc

    波长范围: 450-700nm 波长范围: 800-1600nm 动态范围: -37dBm至3dBm

    PolSNAP是一款紧凑型斯托克斯偏光计，由Hinds Instruments公司设计，拥有超过45年的偏光测量经验。该设备能够以每秒2000个样本的速率快速确定4个斯托克斯矢量，光学系统、驱动电子设备和检测电子设备集成在一个便携式包装中，适用于光源、光学元件的偏振测量以及光纤的偏振保持能力测试。

  • Stokes Polarimeter高灵敏度偏振测量的多功能系统 偏振光学元件 斯托克斯极化仪高灵敏度偏振测量的多功能系统 偏振光学元件 Hinds Instruments Inc

    波长范围: 400-700nm（可扩展至UV到IR范围） 斯托克斯参数精度: 0.5% 斯托克斯参数灵敏度: 0.0005

    Stokes Polarimeter是一款用于高灵敏度偏振测量的多功能系统，覆盖宽波长范围，适用于光学元件表征、光学系统输出表征、天文学、光纤制造、光源和激光质量控制等领域。

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