SS445大面积显示测量系统

分类：其他分类测量仪器

厂家： MicroVision Inc

产地：美国

型号： SS445

更新时间： 2026-02-10T03:08:39.000Z

产品价格：

立即查看报价

简介：

SS445是一款专为大屏幕显示器设计的显示测量系统，适用于包括投影显示器在内的各种显示技术。

下载规格书立即咨询

获取报价

概述
规格参数
应用
特征
图片集
规格书
厂家介绍

概述

SS445是一款专为大屏幕显示器设计的显示测量系统，适用于包括投影显示器在内的各种显示技术。

参数

平移和倾斜分辨率 / Pan&Tilt Assembly Resolution : 0.0032°
负载能力 / Load Capacity : 9lbs
图像传感器 / Image Sensor : 2464x2056 pixels
数字视频 / Digital Video : 12-Bit
元件尺寸 / Element Size : 3.45μm square pixels
同步 / Sync : Synchronous Capture
视场角 / Field Of View : 20mm@1m, adjustable
工作距离范围 / Working Dist. Range : 0.5 to 3.5 meters
数字变焦 / Digital Zoom : Up to 32X
亮度精度 / Luminance Accuracy : +/-4%@2856K
亮度范围 / Luminance Range : 0.05 to 106cd/m² with ND Filters
测量时间 / Measurement Time : <1 sec for most measurements
波长范围 / Wavelength Range : 380 to 780nm (1000nm opt)
亮度范围 / Luminance Range (Spectrometer) : 0.01 to 500kcd/m²
亮度精度 / Luminance Accuracy (Spectrometer) : +/-3%@2856K illuminant A
亮度重复性 / Lum. Repeatability : RSD over 30 minutes <0.5%
色彩精度 / Color Accuracy (X&Y) : +/-0.002@2856K
色彩重复性 / Color Repeatability : +/-0.0005@2856K
积分时间 / Integration Time : 16.7 to 5000msec (sync@60Hz)
热调节 / Thermal Regulation : Computer Controlled
光学元件 / Optics : 12mm Collimated
接近角 / Acceptance Angle : 1.5°
光学分辨率 / Optical Resolution : 3.8nmFWHM@100μm slit
校准 / Calibration : NIST Traceable
工作温度 / Operating Temperature : 5° to 30°C

应用

1. 大屏幕显示器的性能测试 2. 投影显示器的测量 3. 亮度、色度和几何特性的分析

特征

1. 配备5.1MP CMOS相机和光谱仪 2. 支持自动化测试 3. 高精度的平移和倾斜机制 4. 快速测量时间 5. 可调视场和工作距离

图片集

规格书

下载规格书

厂家介绍

30多年来，Microvision一直是显示测试和测量仪器解决方案做的较好的。设计师、OEM集成商、标准测试（ISO、TCO、VESA）和生产质量控制都将受益于我们的显示测试和测量系统的速度、准确性和易用性。 Microvision的显示测试和测量系统是少有的，在一个集成封装中包含多达三个光学传感器，以执行所有类型的测试，包括亮度、对比度、色域、响应时间等。我们的系统具有独特的设计，在移动测量传感器的同时保持显示器静止。这降低了系统的成本和复杂性，并大大减少了所需的实验室空间。我们还使测量光学器件靠近显示器，这大大减少了测量误差，如眩光。