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SS410显示测量系统 其他分类测量仪器

SS410显示测量系统

分类: 其他分类测量仪器

厂家: MicroVision Inc

产地: 美国

型号: SS410

更新时间: 2026-02-10T03:07:56.000Z

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SS410 Display Measurement System是一款高精度的显示测量系统,支持多种传感器配置,包括CMOS相机、光谱仪和响应时间监测器,适用于多种显示技术的测试。

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概述

SS410 Display Measurement System是一款高精度的显示测量系统,支持多种传感器配置,包括CMOS相机、光谱仪和响应时间监测器,适用于多种显示技术的测试。

参数

  • 图像传感器 / Image Sensor : 2464x2056 elements
  • 数字视频 / Digital Video : 12-bit
  • 元件尺寸 / Element Size : 3.45μm
  • 动态范围 / Dynamic Range : 73.0dB
  • 滤光片 / Filters : CIE Photopic, 50, 25, 10 & 1% ND
  • 标准镜头 / Standard Lens : 25mm C Mount, f1.6 to f22
  • 视场角 / Field Of View : 11mm Standard, adjustable
  • 数字变焦 / Digital Zoom : up to 32x
  • 亮度精度 / Luminance Accuracy : ±3%@2856K standard
  • 亮度范围 / Luminance Range : 0.05 to 106cd/m² with ND filters
  • 光谱范围 / Spectral Range : 380 to 780nm (1000nm optional)
  • 亮度范围 / Luminance Range (Spectrometer) : 0.01 to 500kcd/m²
  • 亮度精度 / Luminance Accuracy (Spectrometer) : ±3%@2856K illuminant A
  • 亮度重复性 / Lum. Repeatability : RSD over 30 minutes <0.5% of 0.01cd/m² sensitivity is specified at 3% RSD
  • 色彩精度 / Color Accuracy (X,Y) : ±0.002@2856K
  • 色彩重复性 / Color Repeatability : ±0.0005@2856K
  • 光学元件 / Optics : Computer Controlled
  • 接近角 / Acceptance Angle : 12mm Collimated System
  • 数字分辨率 / Digital Resolution : 16-bit A/D
  • 光学分辨率 / Optical Resolution : 3.8nm FWHM, slit width: 100μm
  • 采样率 / Sample Rate : 100kHz or 1MHz (RTM-HS)
  • 分辨率 / Resolution : 16-bit A/D
  • 探测器响应 / Detector Response : 10kHz or 100kHz (RTM-HS)
  • 响应时间 / Transition Time : 0.01ms to 4sec (RTM-HS)
  • 标准镜头 / Standard Lens (RTM) : 25mm C Mount, f1.6 to f22
  • 接口类型 / Interface : USB

应用

1. OLED显示屏 2. LCD显示屏 3. DLP显示屏 4. LCOS显示屏 5. 微型显示屏 6. 等离子显示屏

特征

1. 高分辨率5.1百万像素相机 2. 支持多达三种传感器技术 3. 自动化测量功能

图片集

SS410 图1
SS410 图2
SS410 图3

规格书

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厂家介绍

30多年来,Microvision一直是显示测试和测量仪器解决方案做的较好的。设计师、OEM集成商、标准测试(ISO、TCO、VESA)和生产质量控制都将受益于我们的显示测试和测量系统的速度、准确性和易用性。 Microvision的显示测试和测量系统是少有的,在一个集成封装中包含多达三个光学传感器,以执行所有类型的测试,包括亮度、对比度、色域、响应时间等。我们的系统具有独特的设计,在移动测量传感器的同时保持显示器静止。这降低了系统的成本和复杂性,并大大减少了所需的实验室空间。我们还使测量光学器件靠近显示器,这大大减少了测量误差,如眩光。

精品推荐

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    概述:Ftirzz是一款专为脉冲光源设计的傅里叶变换中红外光谱仪,支持低至1kHz的重复频率,适用于1.6至12μm的光谱测量。

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    厂家:Fastlite

    概述:Mozza是一款多倍频谱分析仪,专为红外脉冲激光源的光谱特性分析而设计,支持从低赫兹到多赫兹的重复频率。其独特的高速扫描设计可与激光同步,提供实时光谱显示,适用于宽带光谱分析。

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    厂家:Fastlite

    概述:Sequoia是一款用于超快激光脉冲时间对比度测量的参考设备。它采用最先进的技术,能够精确测量高功率激光系统的时间对比度,适用于需要严格脉冲控制的操作,例如飞秒激光系统和高能物理应用。

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图片 名称 分类 制造商 参数 描述
  • Ftirzz傅里叶变换中红外光谱仪 其他分类测量仪器 Ftirzz傅里叶变换中红外光谱仪 其他分类测量仪器 Fastlite

    光谱范围: 1.6–12 光谱范围: 833–6250 光谱分辨率: ≤2.5

    Ftirzz是一款专为脉冲光源设计的傅里叶变换中红外光谱仪,支持低至1kHz的重复频率,适用于1.6至12μm的光谱测量。

  • Mozza多倍频谱分析仪 其他分类测量仪器 Mozza多倍频谱分析仪 其他分类测量仪器 Fastlite

    型号: 1-5 光谱范围: 1-5 光谱范围: 2000-10000

    Mozza是一款多倍频谱分析仪,专为红外脉冲激光源的光谱特性分析而设计,支持从低赫兹到多赫兹的重复频率。其独特的高速扫描设计可与激光同步,提供实时光谱显示,适用于宽带光谱分析。

  • Sequoia时间对比度测量设备 其他分类测量仪器 红杉时间对比度测量设备 其他分类测量仪器 Fastlite

    中心波长: 800±15nm 中心波长: 1050±15nm 光谱带宽: 750-850nm

    Sequoia是一款用于超快激光脉冲时间对比度测量的参考设备。它采用最先进的技术,能够精确测量高功率激光系统的时间对比度,适用于需要严格脉冲控制的操作,例如飞秒激光系统和高能物理应用。

  • Wizzler强度测量设备 其他分类测量仪器 Wizzler强度测量设备 其他分类测量仪器 Fastlite

    光谱检测范围: 380-400 光谱检测范围: 560-1600 光谱检测范围: 560-1060

    Wizzler是一款用于超快激光脉冲单次测量的高对比度光谱相位和强度测量设备,基于自参考光谱干涉技术(SRSI),能够提供精确的脉冲持续时间和光谱信息。

  • D-PROBE DP-SS SERIES 其他分类测量仪器 D-PROBE DP-SS SERIES 其他分类测量仪器 索雷博

    带宽: DC至40/20GHz 插入损耗: <3dB@40/20GHz 阻抗: 50±2Ohm

    D-PROBE DP-SS系列是一款坚固耐用的40/20 GHz差分探针,专为信号完整性和射频测试设计,适用于不平整表面上的直接测试。

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