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TCLDM9温控激光二极管夹具

分类：半导体激光器

厂家：索雷博

产地：美国

型号： TCLDM9

更新时间： 2025-12-18T09:04:26.000Z

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温控激光二极管射频调制光学系统 TEC元件

简介：

TCLDM9是一款用于Ø5.6mm和Ø9mm激光二极管的温控安装座，支持多种引脚配置和极性选择，提供高达500MHz的射频调制能力。

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概述

TCLDM9是一款用于Ø5.6mm和Ø9mm激光二极管的温控安装座，支持多种引脚配置和极性选择，提供高达500MHz的射频调制能力。

参数

激光二极管封装 / Laser Diode Package : Ø5.6mm & Ø9mm
支持的引脚配置 / Supported Pin Configurations : A, B, C, D, E, H, and G (With Some Modification)
接受的引脚直径 / Accepted Pin Diameter Leads : 0.015"-0.020" (0.38mm-0.51mm)
最大激光电流 / Laser Current (Max) : 2A
激光二极管极性 / Polarity Of Laser Diode : Selectable
监控二极管极性 / Polarity Of Monitor Diode : Selectable
最大射频功率 / RF Power (Max) : 200mW, RMS
RF输入阻抗 / RF Input Impedance : 50Ω
调制频率范围 / Modulation Frequency (Bias-T) : 0.1 to 500MHz
最大TEC电流 / TEC Current (Max) : 5A
最大TEC电压 / TEC Voltage (Max) : 4V
TEC加热/冷却能力 / TEC Heating/Cooling Capacity : 20W
TEC接口 / TEC Interface : DB9, Male
温度传感器 / Temperature Sensor : AD592, 10kΩ Thermistor
温度范围（@25°C，2A TEC电流） / Temperature Range (@25°C With 2A TEC Current) : 5 to 70°C

应用

1. 激光二极管温控安装 2. 射频调制应用 3. 光学系统集成

特征

1. 集成TEC元件实现激光二极管的温控操作 2. 支持多种引脚配置和极性选择 3. 提供高达500MHz的射频调制能力 4. 兼容30mm光学笼系统和SM1螺纹 5. 集成TEC锁定电路以保护激光二极管

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该产品已被12篇SCI论文引用

基于平台30万篇光学领域SCI论文分析

局域表面等离子体共振激发下金纳米棒周围三维微观温度分布的光学测量

微观系统中温度的测量与控制因其在众多应用中日益增长的需求而具有根本重要性。然而，微观系统中的三维（3D）温度分布测量尚未得到证实。我们提出并实验验证了利用折射率（RI）的温度依赖性来测量3D温度分布的方法。通过测量水的RI分布，可以在涂有金纳米棒的玻璃基板上以亚微米分辨率定量获取其3D温度分布，温度范围为100°C，灵敏度为2.88°C。所获得的3D温度分布使得包括最高温度、热通量和热导率在内的各种热力学特性能够被定量提取和分析。
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碳纳米管光学整流天线中的光子辅助隧穿：特性分析与建模
多壁碳纳米管金属-绝缘体-金属二极管光辅助隧穿效应光学整流天线垂直碳纳米管阵列太阳能转换

我们展示了采用多绝缘层金属-绝缘体-金属隧道二极管的碳纳米管整流天线光学特性与建模研究。该二极管通过四层Al2O3和ZrO2介质实现低开启电压下的强非线性和高度不对称电流密度。碳纳米管整流天线器件在全光谱范围（404-980纳米）内均呈现能量转换效应。基于未受光照的二极管特性，我们引入光子辅助隧穿（PAT）理论来建立光学行为模型。模型显示PAT理论与实验结果高度吻合，拟合结果表明存在波长依赖性的光生电压。我们探讨了整流天线参数的影响，并阐明了该碳纳米管整流天线器件的性能极限。
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用于稳健工业无损检测的时间差分相位检测方法
鲁棒性无损检测相位检测零差放大时差相位检测

提出了一种用于相位物体在线检测的实时稳健相位检测方法。时间微分相位检测（TDPD）通过在物体横穿光路时利用四台相机在极短时间内检测相位信号。理论表明，当通过光学零差放大来放大微弱信号时，该方法对多相机间强度偏差以及物光束和参考光束中的空间相位变化具有显著更低的敏感性。实验结果表明，在相机增益不均匀度高达20%且光学系统波像差峰谷误差高达四个波长时，仍可实现稳定的相位恢复。
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实验方案推荐

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精密仪器实验方案
1. 实验设计与方法选择：本实验采用光学衍射断层扫描（ODT）技术重建加热水的三维折射率（RI）分布。通过配备数字微镜器件（DMD）的马赫-曾德尔干涉仪，在不同照明角度下测量多幅二维全息图。运用带物理约束的迭代正则化方法（水的折射率不得超过室温值，玻璃基底折射率保持恒定）来补偿物镜数值孔径（NA）的局限性。基于温度变化与折射率变化的经验公式，由折射率分布推导出三维温度分布。 2. 样品选择与数据来源：将蒸馏水装载于两片盖玻片之间，底部盖玻片涂覆通过种子介导法合成的金纳米棒（GNRs）。GNRs设计为在激发波长（808 nm）处具有最大吸收率。数据包含在45个照明角度采集的全息图，以及通过背景体积折射率值的统计分析确定灵敏度。 3. 实验设备与材料清单：设备包括定制ODT系统（HT-1H，Tomocube公司）、氦氖激光器（HNL150R，Thorlabs公司）、DMD（DLP LightCrafter 6500，德州仪器公司）、水浸物镜（NA=1.1 LUMPLN 60×和NA=1.2 UPLSAPO 60×，奥林巴斯公司）、CMOS图像传感器（FL3-U3-13Y3M-C，FLIR系统公司）、红外激光二极管（M9-808-015，Thorlabs公司）、温控载物台（TCLDM9，Thorlabs公司）、激光准直透镜（F230FC-780，Thorlabs公司）、针孔（P30S，Thorlabs公司）、凸透镜（焦距250 mm、20 mm、100 mm）、管镜（焦距250 mm、180 mm）。材料包括采用CTAB、HAuCl4、NaBH4、AgNO3、抗坏血酸、PEG包覆GNRs合成的GNRs、玻璃基底、PSS、PAH及蒸馏水。 4. 实验流程与操作步骤：通过将等离子体激发光束（808 nm红外激光）聚焦于涂覆GNRs的玻璃片加热水体。利用DMD控制45个照明角度的时间复用照明获取全息图以减少杂散衍射。通过傅里叶变换从全息图中提取复光学场，映射至三维傅里叶空间并迭代正则化重建三维折射率分布，再根据经验折射率-温度关系转换为三维温度分布。重复测量以确保可重复性和稳态验证。 5. 数据分析方法：数据分析包括对折射率分布进行高斯分布统计拟合计算灵敏度、与ANSYS有限元法数值模拟结果对比、提取径向与轴向温度分布曲线，以及通过封闭曲面上温度梯度积分进行热力学分析（热通量矢量与热导率估算）。
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纳米材料与技术实验方案
1. 实验设计与方法选择：本研究涉及制备具有多层绝缘体MIM二极管的碳纳米管整流天线器件，并表征其电学与光学特性。基于暗态I-V特性，运用光子辅助隧穿（PAT）理论对光学行为进行建模。方法包括采用化学气相沉积（CVD）和原子层沉积（ALD）进行器件制备，使用源测量单元进行电学表征，以及通过单色激光二极管开展光学表征。 2. 样本选择与数据来源：在涂覆SiO2的硅衬底上，采用乙炔气体低压化学气相沉积法生长多壁碳纳米管。器件图案化区域为0.07平方厘米。数据来源包括404至980纳米波长范围内暗态与光照条件下的I-V测量数据。 3. 实验设备与材料清单：设备包含Keithley 2450源测量单元、Thorlabs TCLDM9热电制冷激光二极管支架、原子层沉积系统、热蒸发系统及氧等离子体刻蚀机。材料包括多壁碳纳米管、Ti/Al/Fe底部电极、Al2O3与ZrO2介电层以及Al顶部电极。 4. 实验流程与操作规范：制备过程包含碳纳米管生长、氧等离子体尖端刻蚀、ALD法共形氧化层包覆及顶部电极沉积。表征环节涵盖±1V至±3V范围的暗态I-V扫描，以及在固定入射功率单色光照下的光学I-V测量。操作流程确保均匀光照并最小化热效应影响。 5. 数据分析方法：基于暗态I-V数据，运用PAT理论对光照I-V曲线建模。通过拟合方法估算波长相关二极管电压（Vω），并采用幂律拟合外推暗态I-V数据。分析内容包括误差评估及实验数据与PAT预测值的对比。
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光电信息科学与工程实验方案
1. 实验设计与方法选择：本研究采用时间差分相位检测（TDPD）方法，使用包含激光二极管、偏振分束器、波片和四台相机的光学系统。通过移动样品穿过光路并在不同时间检测相位信号，以消除相位检索算法中的恒定项。 2. 样品选择与数据来源：使用空间光调制器（SLM）作为相位物体，其相位图像具有阶梯形状（例如-π/2和π/2）。在1000×1000像素区域内进行模拟和实验，样品以200像素为步长移动。 3. 实验设备与材料清单：关键组件包括激光二极管（Thorlabs TCLDM9）、SLM（Holoeye LC 2012）、可变形反射镜（Boston Micromachines Multi-DM）、相机（Thorlabs DCC1545）、用于相位调制的压电驱动反射镜、半波片、四分之一波片、偏振分束器和半分束器。 4. 实验步骤与操作流程：光学设置结合了物光束和参考光束，通过可变相位调制器（VPS）引入相位变化。四台相机在不同时间（T1和T2）以特定相位设置捕获干涉图。计算时间差分信号并用于相位检索算法。 5. 数据分析方法：相位检索涉及从干涉图中计算差分信号，使用方程推导相位差，并对这些差分进行积分以重建相位。通过分析和实验数据评估其对强度偏差和空间相位变化的鲁棒性。
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