GSENSE6060BSI

分类： CMOS图像传感器

厂家： Gpixel Inc.

产地：中国大陆

型号： GSENSE6060BSI

更新时间： 2025-07-31T05:56:14.000Z

产品价格：

立即查看报价

标签：

医疗成像天文成像高动态范围 X射线成像科学级传感器背照式CMOS

简介：

GSENSE6060BSI是一款3700万像素分辨率、大靶面、科学级、背照式CMOS图像传感器。该芯片采用10μm像素尺寸，像素矩阵可进行双面读出，最高帧率为26fps。芯片采用背照式加工工艺，其峰值量子效率高达95%，且感光谱段可拓展至X光和紫外谱段。芯片在HG模式下读出噪声仅为2.3e-，在HDR模式下动态范围高达90dB。芯片采用氮化铝(ALN)PGA陶瓷封装，其导热系数是传统氧化铝陶瓷封装的10倍，在深度制冷时也可保证感光面的平整度。

下载规格书立即咨询

获取报价

概述
规格参数
应用
特征
图片集
规格书
AI智能分析 NEW
厂家介绍

概述

参数

分辨率 / Resolution : 6144×6144
感光面积 / Photo-Sensitive Area : 61.44mm×61.44mm
像素尺寸 / Pixel Size : 10μm×10μm
工作温度 / Operating Temperature : -55℃~60℃
峰值量子效率 / Peak Quantum Efficiency : 95%@580nm
满阱容量 / Full Well Capacity : 14bit STD:68ke@HG, 12bit STD:68ke@LG, 12bit HDR:95ke
动态范围 / Dynamic Range : 14bit STD:77dB@HG, 12bit STD:83dB@LG, 12bit HDR:90dB
读出噪声 / Read Noise : 14bit STD:2.3e@HG, 12bit STD:2.7e@LG, 12bit HDR:3e
最大帧频 / Maximum Frame Rate : 14bit STD:8fps, 12bit HDR:11fps
输入时钟频率 / Input Clock Frequency : 35MHz@12-bit, 30MHz@14-bit
暗电流 / Dark Current : 0.04e-/s/pix@-40℃
输出接口 / Output Interface : 50对LVDS
最大数据率 / Maximum Data Rate : 21Gbps@12-bit
颜色 / Color : 黑白
功耗 / Power Consumption : 4.6W
供电电压 / Supply Voltage : 6.5V模拟, 1.85V数字
封装形式 / Package Type : 250-pin PGA
封装尺寸 / Package Dimensions : 74mm×99mm

应用

1. 医疗 2. 天文 3. 高端科学成像 4. X射线成像

特征

1. 大靶面 2. 峰值量子效率:95% 3. 动态范围:90dB 4. 片上12/14bit ADC 5. ALN封装

图片集

规格书

下载规格书

AI 智能分析

SCI论文引用分析

该产品已被1篇SCI论文引用

基于平台30万篇光学领域SCI论文分析

软X射线光谱偏振仪SolpeX
软X射线偏振测量国际空间站光谱学太阳耀斑

我们展示了一种新型X射线功能模块组合——SolpeX，该仪器组由多个功能相关模块构成，旨在通过俄罗斯仪器综合系统KORTES（将安装于国际空间站）测量太阳耀斑与活动区光谱。SolpeX包含三个模块：快速旋转多平面晶体布拉格谱仪、针孔X射线光谱成像仪和布拉格偏振计。这种测量模块组合能探测/测量软X射线发射线及连续谱中可能存在的X射线偏振现象，并记录太阳耀斑光谱（尤其是耀斑脉冲相阶段）。定向粒子束与耀斑高密度区域碰撞可能产生偏振轫致辐射与谱线辐射。蒸发效应会导致X射线光谱成分出现多普勒频移，这些现象也将被测量。本文详述了SolpeX三大模块的构建细节并探讨其功能特性。搭载SolpeX的KORTES系统预计于2020/2021年运抵国际空间站。
查看全文 >

实验方案推荐

AI分析生成

天文学实验方案
1. 实验设计与方法选择：SolpeX仪器由三个模块组成：PHI（针孔软X射线成像光谱仪）、B-POL（布拉格偏振计）和RDS（旋转鼓式X射线光谱仪）。该设计利用布拉格反射进行光谱分析和偏振测量，其中PHI提供实时太阳X射线成像以指导B-POL和RDS工作。 2. 样本选择与数据来源：主要观测目标是太阳耀斑和活动区，数据源自太阳的X射线辐射。 3. 实验设备与材料清单：包括晶体（如Si 111、KAP）、探测器（如CMOS GSENSE400 BSI、SDD VITUS H50）、滤光片（如聚酰亚胺、镀铝滤光片）及电子元件（如FPGA ProASIC3、DC/DC转换器）。 4. 实验流程与操作步骤：PHI每1/8秒拍摄太阳图像以探测耀斑/活动区；B-POL以1转/秒的速度旋转测量偏振；RDS以10转/秒或摆动方式扫描光谱。数据通过PPS信号同步并存储于闪存中。 5. 数据分析方法：机载算法分析X射线图像以识别活动区/耀斑；地面软件根据光子到达时间和能量重建光谱与偏振；使用CHIANTI和Geant4软件包进行光谱与荧光建模。
获取完整方案

厂家介绍

GPixel Inc.是一家位于中国长春的设计公司，专门为工业、医疗和科学应用提供高端CMOS图像传感器解决方案。