基于半刚性N-供体配体的一维汞卤化物配位聚合物：可逆结构转变

1：实验设计与方法选择：

采用分层法合成，将卤化汞(II)的甲醇或乙醇溶液层叠于1,4-pbpa的四氢呋喃溶液之上。结构表征包括单晶X射线衍射、粉末X射线衍射(PXRD)、红外光谱、元素分析和光致发光(PL)光谱。

2：样品选择与数据来源：

样品包含由HgCl₂、HgBr₂或HgI₂与1,4-pbpa反应合成的复合物1-4。数据来源包括X射线衍射的晶体学数据和固态发射光谱的PL数据。

3：实验设备与材料清单：

设备：PE 2400系列II CHNS/O分析仪(珀金埃尔默)、Elementar Vario EL-III分析仪(埃尔特曼)、JASCO FT/IR-460 plus光谱仪(JASCO)、布鲁克D2 PHASER衍射仪(布鲁克)、日立F-4500光谱仪(日立)、布鲁克AXS SMART APEX II CCD衍射仪(布鲁克)。材料：1,4-苯二乙酸(ACROS公司)、3-氨基吡啶、吡啶、亚磷酸三苯酯、卤化汞(II)盐(Alfa Aesar公司)、1,4-pbpa配体(按文献合成)。

4：实验步骤与操作流程：

合成通过溶液分层并静置两周使晶体生长。PXRD通过加热样品至不同温度(50-180°C)或溶剂热处理监测结构转变。PL测量在室温下以指定狭缝宽度进行。

5：数据分析方法：

晶体学数据使用SHELXTL处理进行结构精修。PXRD图谱与模拟图谱对比验证结构变化。PL数据分析激发和发射波长。