电子撞击下银的表面和体等离子体激元激发

1：实验设计与方法选择：

采用蒙特卡洛模拟方法分析银的反射电子能量损失谱（REELS）。基于介电函数理论的半经典非弹性散射模型被用于模拟，其中弹性散射通过托马斯-费米-狄拉克势下的莫特截面描述。非弹性散射截面被分解为体相与表面激发项，以模拟不同条件下的谱图。

2：样品选择与数据来源：

选择银作为目标材料因其具有强而尖锐的等离子体激发峰。光学介电函数数据源自《固体光学常数手册》（Palik，1985），并采用Ritchie和Howie方法扩展为动量相关的介电函数。

3：实验设备与材料清单：

模拟假设采用柱面镜分析器几何结构进行检测，极角范围为17°至27°，固定检测角度为相对于表面法线的45°。未提及具体物理设备型号或品牌。

4：实验流程与操作步骤：

对250、500、1000和2000 eV的初级电子能量进行模拟，入射角相对于表面法线从9°变化至85°。蒙特卡洛方法追踪电子轨迹，应用深度相关的非弹性散射截面计算REELS谱图。通过全模型与仅体相模型分离表面与体相激发的贡献。

5：1000和2000 eV的初级电子能量进行模拟，入射角相对于表面法线从9°变化至85°。蒙特卡洛方法追踪电子轨迹，应用深度相关的非弹性散射截面计算REELS谱图。通过全模型与仅体相模型分离表面与体相激发的贡献。 数据分析方法：

5. 数据分析方法：通过比较总谱图（含表面与体相激发）与仅体相谱图分析数据。表面激发分量通过总谱图减去体相谱图获得。通过积分至100 eV能量损失的谱图计算体相与表面激发分量的比值。