研究目的
开发一种基于多轴旋转机制的新型X射线CT系统，以避免透射X射线强度饱和，并建立针对电子设备的高精度检测技术。
研究成果
所提出的多轴X射线CT系统采用双轴旋转机制，在模拟实验中有效减少了饱和区域和金属伪影。基于金属区域分析和余弦插值的旋转控制方法显示出提升电子设备检测精度的潜力。未来工作包括构建实际机械结构并验证其有效性。
研究不足
该研究基于模拟实验；实际硬件实现和验证尚待进行。该旋转控制方法可能需针对实际应用进一步优化，且该方法对于金属组件高度密集的设备而言可能较为复杂。
[IEEE 2018年第57届日本仪器与控制工程师学会年会(SICE) - 奈良(2018.9.11-2018.9.14)] 2018年第57届日本仪器与控制工程师学会年会(SICE) - 用于减少金属伪影的多轴X射线CT开发
DOI：10.23919/SICE.2018.8492640
出版年份：2018
更新时间：2026-01-09 18:43:50
摘要：
作为一种成熟的非破坏性诊断/检测技术，能够生成物体横截面图像的X射线CT已广泛应用于我们的生活。尽管其普及程度很高，但与伪影相关的技术问题仍然存在。特别是当物体中含有牙科植入物或铅制导线等金属物体时，金属部分会产生称为金属伪影的强烈径向噪声。迄今为止，我们已提出降低金属伪影的重建算法；然而，在透射X射线强度饱和的情况下难以应用。本文提出了一种基于双轴旋转机制的新型CT系统以避免X射线饱和。通过模拟实验验证了其可行性和有效性。应用我们提出的方法后，确认可以有效减少电子设备产生的金属伪影。
作者：
Kano Toru，Michihiko Koseki
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