一种通过反射计时间延迟数据实时估算边缘台基密度梯度的新技术

1：实验设计与方法选择：

该技术采用简化的边缘等离子体模型，具有线性台基密度梯度和低刮离层密度。它使用普通模式偏振剖面反射计的时间延迟数据，无需直接进行剖面反演。该方法通过三个相邻频率的时间延迟解析估算台基密度梯度。

2：样本选择与数据来源：

使用DIII-D剖面反射计系统的现有数据进行测试。数据包括ELM和L-H模转换等各种等离子体条件下的测量结果。

3：实验设备与材料清单：

DIII-D剖面反射计系统、用于实时分析的现场可编程门阵列（FPGA）。

4：实验步骤与操作流程：

测量三个相邻频率的反射计时间延迟。利用推导出的解析公式估算台基密度梯度。通过实际反演反射计剖面得到的密度梯度对方法进行验证。

5：数据分析方法：

根据模型推导的公式估算梯度。与全剖面反演计算的梯度进行比较以验证该技术。