光束分析仪(Beam Profiler)

更新时间:2025-04-22 03:50:02

分类: 光学谐振腔

定义: 光束分析仪是一种用于测量和分析激光光束空间强度分布的精密仪器,能够获取光束的直径、发散角、M²因子、椭圆度等关键参数,是激光系统研发和质量控制的重要工具。

光束分析仪(Beam Profiler) 详述

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1. 诞生背景

随着激光技术的快速发展,对激光光束质量的精确测量需求日益增长。传统的光斑观察方法(如烧蚀法、感光纸记录)无法满足定量分析需求。20世纪70年代,随着CCD技术和计算机图像处理技术的进步,第一代数字式光束分析仪问世,实现了对激光光束的实时、定量测量。


2. 相关理论或原理

光束分析仪基于以下核心原理工作:


光强分布测量:通过光电传感器阵列(CCD/CMOS)记录光束横截面的二维强度分布

二阶矩理论:根据ISO 11146标准,通过计算光束强度的二阶矩确定光束直径

M²因子测量:通过多位置测量光束直径变化,评估光束质量因子

波前分析:部分高端设备结合夏克-哈特曼传感器实现波前重构


3. 重要参数指标

测量范围:波长范围(190nm-20μm)、功率范围(nW-kW)

空间分辨率:像素尺寸(通常3.45μm-10μm)

动态范围:可达16bit(65,536:1)

采样速率:最高1000帧/秒(高速测量)

测量精度:光束直径测量误差<±3%

可测参数:束宽、椭圆度、发散角、M²因子、光束指向稳定性等


4. 应用

激光器研发:优化谐振设计,评估激光模式

工业加工:确保激光切割/焊接系统的光束质量

光通信:单模光纤耦合效率分析

医疗激光:验证治疗激光的剂量分布

科研实验:非线性光学量子光学研究



5. 分类

按工作原理分类:

相机型:基于面阵CCD/CMOS,适用于可见光-近红外

扫描狭缝型:使用旋转狭缝测量,适合高功率激光

刀口型:通过移动刀口测量边缘分布

波前传感器:可同时测量光强和相位

按应用场景分类:

实验室级高精度分析仪

工业在线监测系统

紫外/红外专用分析仪


6. 未来发展趋势

多参数集成:同时测量强度、相位、偏振等参数

智能化:AI辅助的自动光束诊断与优化

高功率适应:开发可测MW级激光的新型传感器

微型化:芯片级集成光束分析模块

实时反馈:与激光控制系统形成闭环调节



7. 相关产品及生产商

典型产品:

光束质量分析仪

M²因子测量系统

激光光斑诊断仪

主要生产商:

Ophir-Spiricon(美国):BeamGage系列

Coherent(德国):BeamView系列

Gentec-EO(加拿大):Beamage系列

DataRay(美国):WinCamD系列

Cinogy(德国):光束分析系统

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