光谱合束（Spectral Beam Combining）

CropScan 3300H是一款功能强大的近红外透射光谱仪，能够测量谷物和油籽在联合收割机中剥离时的蛋白质、油和水分。CropScan 3300H在谷物从净谷升运器取样时对其进行测量。当光线穿过样品时，谷物落入远程采样头中，在那里停留几秒钟。光纤电缆收集传输的光，并将其发送到位于机舱内的近红外光谱仪。安装在舱内的触摸屏平板电脑控制系统，并实时显示蛋白质、油和水分数据。每7-12秒收集一次数据，并将其显示在触摸屏PC上，显示面元平均值、场平均值和实时蛋白质图谱。该软件将数据发送到互联网上，可以使用PC、平板电脑或智能手机进行监控。联合收割机分析仪上的CropScan 3300H已安装在世界各地的John Deere、Case、New Holland、Claas、Massey Ferguson和Gleaner联合收割机上。

Rigaku NEX LS采用先进的第三代能量色散X射线荧光（EDXRF）技术，代表了用于卷材或线圈应用的扫描多元素工艺涂层分析仪的下一次进化。能量色散X射线荧光（EDXRF）为了提供卓越的分析性能和可靠性，EDXRF测量头组件源自已建立的Rigaku NEX系列高分辨率台式仪器。凭借其成熟的技术，Rigaku NEX LS可对涂层重量、涂层厚度和/或成分进行快速、无损的多元素分析，适用于从铝（Al）到铀（thickness U）的元素。涂层厚度和成分Rigaku NEX LS专为卷筒纸和卷材应用而设计，能够执行多元素组合、涂层重量或涂层厚度。测量头安装在刚性梁上，并配备有位于滚轮上方的线性横动机构，以使头-面距离恒定。需要时，可直接测量涂层的元素组成。相反，涂层重量（或涂层厚度）可以直接测量（其中元素的计数率与厚度成比例）或通过测量一些基材元素的衰减来间接测量（其中计数率与厚度负相关）。长期以来，台式EDXRF光谱仪一直是脱模涂层、转换器、真空成型塑料制造商和其他使用硅油作为阻挡层、脱模涂层或脱模剂的行业所熟悉的技术。实时扫描，用于更严格的过程控制公差，将用于硅涂层分析的EDXRF技术提升到一个新的水平。硅酮涂层应用于塑料和纸质基材，以改变产品（如标签）或包装的释放特性。如果施加的硅酮太少，或者如果存在硅酮涂层缺失的幅材区域，则在剥离应用中粘合剂剥离性能将受到不利影响，或者真空成形塑料的脱嵌特性将受到损害，从而导致产品报废或在制造和其它下游工艺中中断。如果应用了太多的硅酮，则制造的辊的成本增加，降低了盈利能力，并且在某些情况下影响了较终产品的接受和性能。

波长范围: 1.0 to 12.0 µm

Thorlabs Inc的OSA207是一款光谱分析仪，波长范围为1.0至12.0µm，波长分辨率光谱分辨率：7.5 GHz（0.25 cm-1），波长精度光谱精度：±2 ppmf，动态范围光抑制比：30 dB，光功率范围10 MW（10 dBm）。有关OSA207的更多详细信息，请参见下文。

波长范围: 350 to 1750 nm谱带: VIS & Optical Communications

Yokogawa Meter&Instruments的AQ6374是一款光谱分析仪，可以评估350至1750 nm的可见光和光通信波长。它具有60dB的宽动态范围和0.05~10nm的高波长分辨率。该分析仪的最大分辨率为2 pm，能够对多达100，000个波长点的功率水平进行采样，因此只需一次扫描即可精确评估和分析各种波长。AQ6374可用于开发分布式半导体器件，如仅发射一种波长的反馈激光二极管（DFB-LD）以及需要在宽波长范围内进行测量的光纤。AQ6374带有两个额外的增强功能。第一个是清除单色仪中捕获的水蒸气的功能，单色仪可以抑制某些波长的光的吸收。第二个功能是减少波长为入射光2–3倍的高阶衍射光的影响，这是所有单色仪因其设计原理而具有的特性。它非常适合半导体和光纤激光器的发射光谱测量以及光纤和光学滤波器的波长传输特性测量。

在解决特定分析任务时，选择理想的取样技术至关重要。布鲁克公司的 MPA II 为用户的日常质量保证/质量控制工作以及复杂的方法开发研究提供了全面的解决方案。 开始时，用户往往不清楚哪种取样方法最理想。有了 MPA II，只需运行几种方法，然后选择最合适的选项即可。 由于 MPA II 采用模块化设计，因此可以很容易地根据用户需求对仪器进行改装。仪器坚固耐用，既可用于实验室，也可用于工厂车间。它甚至可以放置在多功能推车上进行移动应用。